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公开(公告)号：CN107631690A
公开(公告)日：2018-01-26
申请号：CN201710775391.8
申请日：2017-08-31
Applicant: 杭州长庚测量技术有限公司 , 广州广电计量检测股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种直线导轨表面缺陷测量方法，涉及测试技术领域。角锥棱镜移动得到导轨表面缺陷的直线导轨刻度位移d，激光干涉仪发出的光束经角锥棱镜反射原路返回，分光后一束光射入激光干涉仪，得到导轨表面缺陷的干涉仪检测位移l，另一束光射入相机，CCD感光面形成光斑转换后计算得到角锥棱镜在导轨表面缺陷中的实际路程s，导轨表面缺陷实际路程L为l与s之和。本发明解决了现有技术中激光干涉仪对直线导轨表面缺陷测量难以确定准确位置给修复带来困难的技术问题。本发明有益效果为：消除了利用激光干涉仪测量的误差，测量更加精确。为直线导轨表面缺陷修复提供准确的依据。
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公开(公告)号：CN107631690B
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201710775391.8
申请日：2017-08-31
Applicant: 浙江双鸿智能设备有限公司 , 杭州长庚测量技术有限公司 , 广州广电计量检测股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种直线导轨表面缺陷测量方法，涉及测试技术领域。角锥棱镜移动得到导轨表面缺陷的直线导轨刻度位移d，激光干涉仪发出的光束经角锥棱镜反射原路返回，分光后一束光射入激光干涉仪，得到导轨表面缺陷的干涉仪检测位移l，另一束光射入相机，CCD感光面形成光斑转换后计算得到角锥棱镜在导轨表面缺陷中的实际路程s，导轨表面缺陷实际路程L为l与s之和。本发明解决了现有技术中激光干涉仪对直线导轨表面缺陷测量难以确定准确位置给修复带来困难的技术问题。本发明有益效果为：消除了利用激光干涉仪测量的误差，测量更加精确。为直线导轨表面缺陷修复提供准确的依据。
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公开(公告)号：CN103604378A
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201310593606.6
申请日：2013-11-22
Applicant: 杭州长庚测量技术有限公司
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明提供一种硅钢片激光测厚装置，涉及测量技术领域。它包括由上下两层构成的支架，支架上层左右两端固定有上侧板，支架下层左右两端固定有下侧板，两个上侧板之间的距离小于两个下侧板之间的距离，两个下侧板之间可转动连接有支撑轴，支撑轴上方设有一对相距一定间距且可转动的压轮，两个压轮间距的上方设有激光发射器和CCD接收器，压轮的轴线与支撑轴的轴线平行，压轮通过设置的压辊组件与支架上层可上下移动连接，压轮与支撑轴相压接。本发明的有益效果是：测厚装置的支撑轴和压轮三点共线压紧被测硅钢片，确保测量精度。只需要一对激光发射器发射和CCD接收器，节约成本。结构小巧紧凑，便于携带，适用范围广。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103759679B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310539804.4
申请日：2013-11-04
Applicant: 杭州长庚测量技术有限公司
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明公开了一种锥束CT系统角度偏差测量方法。利用一种校准用的模板，采集模板上各个标记点在探测器上的投影数据，利用空间解析几何算法，通过联立锥束CT系统探测器平面方程、射线源出射点与校准用模板上标记点的连线方程所得的方程组，即可由实际测得标记点在探测器上的投影坐标计算得到探测器平面以及转台转轴中心的空间偏转角。本发明的空间偏转角测量精度可达到分度量级，具有较高的可靠性，无需对模板多角度旋转，并且可实现各机械结构角度偏差参数的有效分离，在锥束CT系统机械结构的几何参数偏差测量和系统校正中具有很好的实际应用价值，解决了锥束CT系统机械结构角度偏差难以测量及校正的难题。
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公开(公告)号：CN103604378B
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201310593606.6
申请日：2013-11-22
Applicant: 杭州长庚测量技术有限公司
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明提供一种硅钢片激光测厚装置，涉及测量技术领域。它包括由上下两层构成的支架，支架上层左右两端固定有上侧板，支架下层左右两端固定有下侧板，两个上侧板之间的距离小于两个下侧板之间的距离，两个下侧板之间可转动连接有支撑轴，支撑轴上方设有一对相距一定间距且可转动的压轮，两个压轮间距的上方设有激光发射器和CCD接收器，压轮的轴线与支撑轴的轴线平行，压轮通过设置的压辊组件与支架上层可上下移动连接，压轮与支撑轴相压接。本发明的有益效果是：测厚装置的支撑轴和压轮三点共线压紧被测硅钢片，确保测量精度。只需要一对激光发射器发射和CCD接收器，节约成本。结构小巧紧凑，便于携带，适用范围广。
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公开(公告)号：CN103759679A
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201310539804.4
申请日：2013-11-04
Applicant: 杭州长庚测量技术有限公司
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明公开了一种锥束CT系统角度偏差测量方法。利用一种校准用的模板，采集模板上各个标记点在探测器上的投影数据，利用空间解析几何算法，通过联立锥束CT系统探测器平面方程、射线源出射点与校准用模板上标记点的连线方程所得的方程组，即可由实际测得标记点在探测器上的投影坐标计算得到探测器平面以及转台转轴中心的空间偏转角。本发明的空间偏转角测量精度可达到分度量级，具有较高的可靠性，无需对模板多角度旋转，并且可实现各机械结构角度偏差参数的有效分离，在锥束CT系统机械结构的几何参数偏差测量和系统校正中具有很好的实际应用价值，解决了锥束CT系统机械结构角度偏差难以测量及校正的难题。
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公开(公告)号：CN203605913U
公开(公告)日：2014-05-21
申请号：CN201320743682.6
申请日：2013-11-22
Applicant: 杭州长庚测量技术有限公司
Abstract: 本实用新型提供一种硅钢片厚度测量装置，涉及测量技术领域。它包括上下两层结构的支架，支架上层设有一对压辊组件，支架下层可转动连接有支撑轴，支撑轴上方设有一对相距一定间距的压轮，压轮的轴线与支撑轴的轴线平行，压轮与支撑轴相压接，压轮与压辊组件可转动连接，支架顶部顶部连接有探测器固定板，探测器固定板设有探测器，探测器的位置与压轮间距的位置相对应。本实用新型解决了现有技术中薄片厚度测量存在误差影响测量精度的技术问题。本实用新型的有益效果是：厚度测量装置的支撑轴和压轮三点共线压紧被测硅钢片，确保测量精度。结构小巧紧凑，便于携带。探测器可按需要选用，使用范围广，适应性好。
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公开(公告)号：CN203605900U
公开(公告)日：2014-05-21
申请号：CN201320743837.6
申请日：2013-11-22
Applicant: 杭州长庚测量技术有限公司
Abstract: 本实用新型提供一种硅钢片测厚装置，涉及测量技术领域。它包括呈倒T型的基座，基座的凸起部为上台阶，上台阶左右两边为下台阶，两个下台阶的上表面齐平，下台阶分别固定连接有可转动的第一输送轴和第三输送轴，上台阶固定连接有可转动的第二输送轴，第一输送轴、第二输送轴和第三输送轴的轴线相互平行，第二输送轴的上方设有探测器。本实用新型解决了现有技术中测量薄片厚度存在误差的技术问题。本实用新型的有益效果是：三根输送轴对硅钢片形成一个拉紧趋势，保证测量精度。被测硅钢片在离开测厚装置之后能够完全恢复平整，不会损坏被测硅钢片。只需要一个探测器，节约成本。结构小巧紧凑，便于携带，适用范围广。
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