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公开(公告)号：CN117074913A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311045960.5
申请日：2023-08-18
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于多目标优化区间的电路板V‑I曲线不确定度量方法，本发明方法可针对V‑I曲线数据存在偏移和低密度情况，构建具有多目标损失函数的深度神经网络模型进行V‑I曲线不确定的度量，自动获取具有高覆盖、窄宽度、小偏差特性的V‑I曲线区间。针对采集设备的过零点补偿导致采集的同一测点V‑I曲线数据存在形状相同但上下偏移情况，采用最大最小归一化方法消除偏移。针对数据分布不同而导致预测区间偏差大情况，构建一个包含偏差信息的损失函数来实现区间对低密度数据覆盖，进一步地有利于电路板的故障检测研究。
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