公开(公告)号：CN119245070A

公开(公告)日：2025-01-03

申请号：CN202411450033.6

申请日：2024-10-17

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 郑光华 ,  洪亭 ,  王硕 ,  丁宁

IPC: F23R3/00 ,  F02C3/14 ,  F02C6/00 ,  F24S23/30 ,  F24S23/71 ,  H02J3/28 ,  H02J15/00 ,  H02J3/38

Abstract: 本发明公开了一种太阳能‑燃料互补的热电子‑燃气轮机发电装置，包括：压缩机、高压储气罐、太阳能聚光器、阳极、阴极、燃烧室、透平；阴极贴附于燃烧室的外壁；阴极逸出的电子能逸入阳极；所述压缩机通过可再生能源电力驱动并吸收空气储存在高压储气罐中；太阳光经过太阳能聚光器聚光后，能透过阳极照射到阴极上；阳极和阴极分别连接负载用于为负载供电；所述燃烧室的输出端连接透平，以使用燃烧产物推动透平发电。本装置有效地消纳了多余的可再生能源电力，并电网需求时，利用了燃烧及太阳辐射加热过程中产生的高温热以及高能气体，实现了多种能源的混合利用。

公开(公告)号：CN116992801A

公开(公告)日：2023-11-03

申请号：CN202211093426.7

申请日：2022-09-06

Applicant: 杭州电子科技大学 ,  北京微电子技术研究所 ,  北京卓芯半导体科技有限公司

Inventor： 杨欣欢 ,  桑倩倩 ,  王传政 ,  王硕 ,  周婧 ,  王亮 ,  赵元富 ,  马文哲 ,  李沛林

IPC: G06F30/3308 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种考虑TDDB效应的电路评估方法。本发明包括如下步骤：1、首先进行电路仿真，得到该仿真时间段内电路的电压波形；然后根据该波形计算TDDB效应造成电路失效的时间，并将该失效时间转换为退化指标；2、判断步骤1中得到的退化指标是否小于1，若小于1则说明该电路的裕量过小，需重新设计；若大于等于1，说明该电路在TDDB效应的影响下仍可以在设计的裕量下正常工作，未超出预期。本发明基于电压实时波形计算TDDB效应引起的退化，将其转化为退化指标来评估电路性能，具有灵活性、高可靠性以及易于实现的优点，能够在电路超出预期失效时间前准确地给出提示信号，更好地评估TDDB效应对电路性能的影响，有利于在设计阶段加强电路的可靠性。

公开(公告)号：CN116976065A

公开(公告)日：2023-10-31

申请号：CN202211084330.4

申请日：2022-09-06

Applicant: 杭州电子科技大学 ,  北京微电子技术研究所 ,  北京卓芯半导体科技有限公司

Inventor： 桑倩倩 ,  杨欣欢 ,  王传政 ,  王硕 ,  周婧 ,  王亮 ,  赵元富 ,  李沛林 ,  马文哲

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/04 ,  G06F111/08

Abstract: 本发明公开了一种器件老化敏感点分析方法。本发明按照电路设计自带的模块层次依次对电路中的每个模块层次中的器件进行老化分析。即对电路中随机一个模块层次中的器件进行老化仿真时，其余模块层次中的器件重置为零，便于对当前模块层次中器件的老化分析。电路网仿真结束后，比较每个模块层次的电路网的老化性能衰退指标与老化性能衰退指标阈值的大小。如果当前模块层次的电路网的老化性能衰退指标大于老化性能衰退指标阈值，则对当前模块层次的电路网中下一层级的M个电路网表进行老化仿真，直到最低层级的器件为止。本发明能够大大降低电路可靠性敏感点分析的计算量，提升电路可靠性敏感点分析的效率、速度，并且不会影响敏感点分析的精度。