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公开(公告)号：CN115586639A
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202211261024.3
申请日：2022-10-14
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G02B27/00
Abstract: 本发明公开了了一种利用空间模式分解复用测量点光源位置的方法，该方法原理是基于量子探测理论中的正交投影测量。将原来直接测量点光源光强在坐标空间的分布，转换为测量各个厄米高斯模式的权重。具体操作时只需要将每个厄米高斯模式复振幅的复共轭编码成计算全息图，通过更换不同的计算全息图，记录其一阶衍射光轴处的光子数，再归一化后便可以得到待测光场处在各个厄米高斯模式的权重。相比于传统测量只需要一个像素来测量就可以达到最优化测量。
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