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公开(公告)号：CN110274895A
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201810221070.8
申请日：2018-03-17
Applicant: 杨佳苗
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明属于化学物质检测技术领域，可用于对物质的化学成分进行高灵敏度探测鉴别。本发明使用多个探测器同时探测不同波长下的荧光寿命及光谱信息，能对微弱的自发荧光光谱及荧光寿命进行高灵敏度的探测，具有探测精度高，探测速度快的特点。同时，本发明利用针孔对收集到的荧光信号进行滤波，提高系统的分辨率；利用扫描系统实现被测物质二维或三维荧光寿命及荧光强度谱分布的测量。因此，本发明的提出为待测物质荧光寿命及荧光光谱的高灵敏度便捷测量提供了可行途径，将在生物学、医学、材料科学等研究领域及临床医学诊断方面具有重要应用。
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公开(公告)号：CN107941168A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201810042889.8
申请日：2018-01-17
Applicant: 杨佳苗
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于散斑位置标定的反射式条纹面形测量方法与装置。该方法将被测表面散射光斑绝对位置标定和多相机多视场拼接式测量法与反射式条纹三维面形测量方法相结合，利用细光束与被测工件表面相互作用产生的散射光斑对被测表面的绝对高度进行标定，解决了由于无法非接触测得被测工件表面点的绝对高度信息而导致测量精度难以提高的难题；利用多个相机对被测件的不同部位进行三维面形测量，避免弯曲表面自身遮挡导致单相机测量数据不完整。本发明具有测量精度高、测量速度快、抗环境干扰能力强等优点，可用于对弯曲度大的高反射曲面进行快速三维面形测量。
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公开(公告)号：CN108844930B
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201810452930.9
申请日：2018-05-14
Applicant: 杨佳苗
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明属于化学物质检测技术领域，利用分光瞳设计，有效屏蔽激发光路中光学元件自发荧光对结果的干扰，提高系统的信噪比。此外，将共焦物体表面定位技术和分立荧光光谱和荧光寿命测量技术相融合；利用共焦技术实现待测样品表面三维形貌的高精度测量，同时利用分立荧光光谱及荧光寿命探测技术实现待测样品表面各点的荧光光谱及荧光寿命的高灵敏度检测，进而得到三维高分辨空间物质成分分布信息。并且在样品表面的荧光信息测量过程中，本发明使用了多种不同的分立荧光探测手段，包括荧光光谱检测和荧光寿命检测。本发明在生物学，医学，材料科学以及临床医学诊断领域具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN110650293A
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201911083900.6
申请日：2019-11-08
Applicant: 杨佳苗
IPC: H04N5/232
Abstract: 本发明属于高速成像和智能化图像处理技术领域，涉及一种高速人工智能相机片上实时图像处理方法与装置。本发明首次提出将基于人工智能算法的图像处理程序载入到相机的可编程模块中，用来实时智能化处理从图像传感器采集得到的图像数据，并将图像处理结果直接传输给上位机，保证了对图像数据处理的实时性，同时采用人工智能图像处理算法，极大的提高了图像处理的准确性和有效性。由于图像处理结果的数据量远远小于图像原始数据，因此本发明解决了相机和上位机之间大量图片数据高速传输的难题。此外，可编程模块中载入的图像处理程序可根据需求反复擦除和写入，方便用户实现对图像数据处理程序的调试和更新换代。
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公开(公告)号：CN108801987A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810221156.0
申请日：2018-03-17
Applicant: 杨佳苗
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6402 , G01N21/6458 , G01N2021/6421
Abstract: 本发明属于化学物质检测技术领域，涉及一种共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置。该方法将共焦物体表面定位技术和分立荧光光谱和荧光寿命测量技术相融合；利用共焦技术解决待测样品表面三维形貌的高精度测量，同时利用分立荧光光谱及荧光寿命探测技术解决待测样品表面各点的荧光光谱及荧光寿命的高灵敏度检测，进而得到三维高分辨空间物质成分分布信息。本发明首次将共焦测量技术和分立荧光物质成分探测技术相融合，保证荧光成像系统在待测样品表面每一个位置都具有相同的横向分辨率，并最终将测得的荧光光谱分布和三维形貌进行精确的对应。此技术在生物学，医学，材料科学以及临床医学诊断领域具有广泛的应用前景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107941168B
公开(公告)日：2019-11-05
申请号：CN201810042889.8
申请日：2018-01-17
Applicant: 杨佳苗
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于散斑位置标定的反射式条纹面形测量方法与装置。该方法将被测表面散射光斑绝对位置标定和多相机多视场拼接式测量法与反射式条纹三维面形测量方法相结合，利用细光束与被测工件表面相互作用产生的散射光斑对被测表面的绝对高度进行标定，解决了由于无法非接触测得被测工件表面点的绝对高度信息而导致测量精度难以提高的难题；利用多个相机对被测件的不同部位进行三维面形测量，避免弯曲表面自身遮挡导致单相机测量数据不完整。本发明具有测量精度高、测量速度快、抗环境干扰能力强等优点，可用于对弯曲度大的高反射曲面进行快速三维面形测量。
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公开(公告)号：CN110132907A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201810134304.5
申请日：2018-02-09
Applicant: 杨佳苗
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明属于化学物质检测技术领域，可用于对物质的化学成分进行高灵敏度探测鉴别。本发明利用光纤或光纤束对脉冲激光进行引导以及对激发荧光进行传输，可让操作者手持光纤探头灵活地对待测物质进行检测；同时，本发明使用多个探测器同时探测不同波长下的荧光寿命及光谱信息，能对微弱的自发荧光光谱及荧光寿命进行高灵敏度的探测，具有探测精度高，探测速度快的特点。因此，本发明的提出为待测物质荧光寿命及荧光光谱的高灵敏度便捷测量提供了可行途径，将在生物学、医学、材料科学等研究领域及临床医学诊断方面具有重要应用。
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公开(公告)号：CN108507986A
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201810221236.6
申请日：2018-03-17
Applicant: 杨佳苗
Abstract: 本发明属于化学物质检测技术领域，涉及一种差动共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置。本发明基本思想是将具有精密轴向分辨率的差动共焦物体表面定位技术和分立荧光光谱和荧光寿命测量技术相融合；利用差动共焦技术解决待测样品表面三维形貌的高精度测量，同时利用分立荧光光谱及荧光寿命探测技术解决待测样品表面各点的荧光光谱及荧光寿命的高灵敏度检测，进而得到三维高分辨空间物质成分分布信息。本发明首次将差动共焦测量技术和荧光物质成分探测技术相融合，保证荧光成像系统在待测样品表面每一个位置都具有相同的横向分辨率，并最终将测得的荧光光谱分布和三维形貌进行精确的对应。此技术在生物学，医学，材料科学以及临床医学诊断领域具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN108195314A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201810042587.0
申请日：2018-01-17
Applicant: 杨佳苗
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于多视场拼接的反射式条纹三维面形测量方法。该方法提出同时使用多个相机对被测件的不同部位进行三维面形测量，解决了弯曲表面自身遮挡导致单相机测量数据不完整的问题。为保证多个相机测量数据的坐标系一致，本发明对多个相机和条纹显示屏进行了统一的标定，建立起了统一的空间坐标系。此外，本发明利用细光束标记等方法来矫正各相机测量数据之间细微的倾斜和平移误差，进一步提高了测量精度。本发明首次将多相机多视场同步测量思想融入到高反射表面反射式条纹三维面形测量技术中，具有测量精度高、测量速度快、抗环境干扰能力强等优点，可用于对弯曲度大的高反射曲面进行快速三维面形测量。
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公开(公告)号：CN108801987B
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN201810221156.0
申请日：2018-03-17
Applicant: 杨佳苗
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明属于化学物质检测技术领域，涉及一种共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置。该方法将共焦物体表面定位技术和分立荧光光谱和荧光寿命测量技术相融合；利用共焦技术解决待测样品表面三维形貌的高精度测量，同时利用分立荧光光谱及荧光寿命探测技术解决待测样品表面各点的荧光光谱及荧光寿命的高灵敏度检测，进而得到三维高分辨空间物质成分分布信息。本发明首次将共焦测量技术和分立荧光物质成分探测技术相融合，保证荧光成像系统在待测样品表面每一个位置都具有相同的横向分辨率，并最终将测得的荧光光谱分布和三维形貌进行精确的对应。此技术在生物学，医学，材料科学以及临床医学诊断领域具有广泛的应用前景。
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