公开(公告)号：CN113848505B

公开(公告)日：2024-08-13

申请号：CN202110703931.8

申请日：2021-06-24

Applicant: 本田技研工业株式会社

Inventor： 川西弘晃 ,  山岸弘幸

IPC: G01R31/52

Abstract: 本发明提供一种电解质膜的短路检查方法和电解质膜的短路检查装置。由短路检查装置(10)检查的电解质膜(16)的短路检查方法包括：获取工序，对位置彼此不同的多个限定范围(74)分别进行获取限定范围(74)的通电状态的处理，其中，所述限定范围(74)包括在比多个分割部位(72)的整体范围小的范围内彼此相邻的分割部位(72)；和判定工序，根据多个限定范围(74)的通电状态，来判定在电解质膜(16)中是否存在短路部位(S)。据此，即使在电解质膜部件中彼此相邻的分割部位之间存在短路部位的情况下，也能够高精度地检测出在电解质膜中是否存在该短路部位。

公开(公告)号：CN113848505A

公开(公告)日：2021-12-28

申请号：CN202110703931.8

申请日：2021-06-24

Applicant: 本田技研工业株式会社

Inventor： 川西弘晃 ,  山岸弘幸

IPC: G01R31/52

Abstract: 本发明提供一种电解质膜的短路检查方法和电解质膜的短路检查装置。由短路检查装置(10)检查的电解质膜(16)的短路检查方法包括：获取工序，对位置彼此不同的多个限定范围(74)分别进行获取限定范围(74)的通电状态的处理，其中，所述限定范围(74)包括在比多个分割部位(72)的整体范围小的范围内彼此相邻的分割部位(72)；和判定工序，根据多个限定范围(74)的通电状态，来判定在电解质膜(16)中是否存在短路部位(S)。据此，即使在电解质膜部件中彼此相邻的分割部位之间存在短路部位的情况下，也能够高精度地检测出在电解质膜中是否存在该短路部位。