公开(公告)号：CN115047009A

公开(公告)日：2022-09-13

申请号：CN202210197527.2

申请日：2022-03-02

Applicant: 本田技研工业株式会社

Inventor： 坂本三四郎

IPC: G01N21/89 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明要解决的问题在于提供一种检查方法和装置，利用简单的方法就能够检测被检查体是否存在由表面凹凸部引起的缺陷以及存在位置。为了解决上述问题，本发明提供一种表面检查方法，利用检查光的强度变化来检测沿着特定的方向输送的面状的被检查体是否具有由表面凹凸部引起的缺陷，检查光具备至少两条检查光，所述至少两条检查光在被检查体的侧面视图中与被检查体的表面平行地，且在被检查体的平面视图中在与输送方向相交的方向上通过被检查体表面上或被检查体内，两条检查光在平面视图中彼此不平行。

公开(公告)号：CN118738528A

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202410231331.X

申请日：2024-02-29

Applicant: 本田技研工业株式会社

Inventor： 福岛岳大 ,  酒井宏 ,  坂本三四郎

IPC: H01M10/0562 ,  H01M10/0525 ,  H01M10/0585 ,  H01M4/04 ,  H01M4/80

Abstract: 本发明提供降低了表面粗糙度的固态电解质片材的制造方法。填充有固态电解质的固态电解质片材的制造方法包括：向三维结构体的内部以及上部涂敷含有固态电解质的浆料而形成由所述浆料构成的第二未固化物的工序、以及使位于所述三维结构体的内部以及上部的所述第二未固化物干燥而在所述三维结构体的内部以及上部形成第二固态电解质层从而得到在所述三维结构体的内部填充有所述第二固态电解质层的固态电解质片材的工序。