存储控制器测试方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117539697A

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202311311006.6

    申请日:2023-10-11

    Abstract: 本申请涉及一种存储设备测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:在待测试的存储设备的BMC管理系统中,依次执行配置文件中的每一测试项对应的测试命令,对存储设备进行功能测试;通过BMC管理系统获取测试项对应的功能测试的第一测试信息;基于每一测试项对应的第一测试信息以及预设的参考测试信息,确定测试项的测试结果,并得到存储设备的测试结果。采用本方法能够提高存储设备测试效率。

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