一种光学系统虚像视距测量方法

    公开(公告)号:CN114993627B

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202210693206.1

    申请日:2022-06-17

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明涉及虚像视距测量技术领域,更具体地,涉及一种光学系统虚像视距测量方法。本发明的光学系统虚像视距测量方法利用了摄影系统的景深理论、图像清晰度和空间分辨率的概念及检测方法,不仅能对图像清晰度进行判断,减小视距测量的误差,还考虑景深特性,提高虚像视距的测量精度,使视距测量的误差进一步减小。

    一种光学系统虚像视距测量方法

    公开(公告)号:CN114993627A

    公开(公告)日:2022-09-02

    申请号:CN202210693206.1

    申请日:2022-06-17

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明涉及虚像视距测量技术领域,更具体地,涉及一种光学系统虚像视距测量方法。本发明的光学系统虚像视距测量方法利用了摄影系统的景深理论、图像清晰度和空间分辨率的概念及检测方法,不仅能对图像清晰度进行判断,减小视距测量的误差,还考虑景深特性,提高虚像视距的测量精度,使视距测量的误差进一步减小。

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