半导体装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN111384021A

    公开(公告)日:2020-07-07

    申请号:CN201911367935.2

    申请日:2019-12-26

    Abstract: 本发明的目的在于提供再布线层中的层间绝缘膜与封装材料的密合性优异且电特性优异的半导体装置及其制造方法。本发明的半导体装置(1)的特征在于,具备半导体芯片(2)、覆盖半导体芯片的封装材料(3)、以及在俯视时面积大于前述半导体芯片的再布线层(4),再布线层的层间绝缘膜(6)在空气气氛下、以10℃/分钟温至700℃后的失重率为5~95重量%。根据本发明,能够提供再布线层中的层间绝缘膜与封装材料的密合性优异且电特性优异的半导体装置及其制造方法。

    半导体装置及其制造方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118448385A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410525922.8

    申请日:2019-12-26

    Abstract: 本发明的目的在于提供再布线层中的层间绝缘膜与封装材料的密合性优异且电特性优异的半导体装置及其制造方法。本发明的半导体装置(1)的特征在于,具备半导体芯片(2)、覆盖半导体芯片的封装材料(3)、以及在俯视时面积大于前述半导体芯片的再布线层(4),再布线层的层间绝缘膜(6)在空气气氛下、以10℃/分钟温至700℃后的失重率为5~95重量%。根据本发明,能够提供再布线层中的层间绝缘膜与封装材料的密合性优异且电特性优异的半导体装置及其制造方法。

    半导体装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN111384021B

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN201911367935.2

    申请日:2019-12-26

    Abstract: 本发明的目的在于提供再布线层中的层间绝缘膜与封装材料的密合性优异且电特性优异的半导体装置及其制造方法。本发明的半导体装置(1)的特征在于,具备半导体芯片(2)、覆盖半导体芯片的封装材料(3)、以及在俯视时面积大于前述半导体芯片的再布线层(4),再布线层的层间绝缘膜(6)在空气气氛下、以10℃/分钟温至700℃后的失重率为5~95重量%。根据本发明,能够提供再布线层中的层间绝缘膜与封装材料的密合性优异且电特性优异的半导体装置及其制造方法。

    半导体装置及其制造方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116995056A

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN202310470098.6

    申请日:2023-04-27

    Inventor: 清水建树

    Abstract: [课题]提供能够实现绝缘层的耐化学药品性的提高以及绝缘层与布线在热历程后的密合性的确保的半导体装置及其制造方法。[解决手段]具备半导体芯片(2)、密封结构和再布线层(4),所述密封结构以半导体芯片(2)的至少一部分露出的方式覆盖半导体芯片(2),所述再布线层(4)配置在半导体芯片(2)的未被密封结构覆盖的表面侧,且俯视时的面积大于半导体芯片(2),再布线层(4)包含单层或多层的绝缘层(6),再布线层(4)的绝缘层(6)的剖视的高低差为0.1μm~1.8μm。

    半导体装置及其制造方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118676106A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410283015.7

    申请日:2024-03-13

    Inventor: 清水建树

    Abstract: 一种半导体装置及其制造方法。提供可实现能在绝缘层中形成微细的通路孔、不发生绝缘不良及能确保绝缘层与布线在可靠性试验后的密合性中的全部的半导体装置,且提供能实现绝缘层的耐化学药品性的提高及绝缘层与布线在热历程后的密合性的确保的半导体装置。半导体装置(1)具备半导体芯片(2)、密封材料(3)和再布线层(4),密封材料(3)将半导体芯片(2)以其至少一部分露出的方式覆盖,再布线层(4)配置于半导体芯片(2)中的未被密封材料(3)覆盖的表面侧,且俯视时的面积大于半导体芯片(2),再布线层(4)包含与半导体芯片(2)电连接的布线(5)和透氧度为150~7000cm3/m2·天·atm的绝缘层(6)。

    半导体装置及其制造方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118448386A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410525923.2

    申请日:2019-12-26

    Abstract: 本发明的目的在于提供再布线层中的层间绝缘膜与封装材料的密合性优异且电特性优异的半导体装置及其制造方法。本发明的半导体装置(1)的特征在于,具备半导体芯片(2)、覆盖半导体芯片的封装材料(3)、以及在俯视时面积大于前述半导体芯片的再布线层(4),再布线层的层间绝缘膜(6)在空气气氛下、以10℃/分钟温至700℃后的失重率为5~95重量%。根据本发明,能够提供再布线层中的层间绝缘膜与封装材料的密合性优异且电特性优异的半导体装置及其制造方法。

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