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公开(公告)号：CN101617023A
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200880003871.1
申请日：2008-02-04
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G21K4/00 , C01F17/0018 , C01G15/00 , C01G15/006 , C04B35/01 , C04B35/44 , C04B35/6261 , C04B35/6455 , C04B2235/3206 , C04B2235/3224 , C04B2235/3229 , C04B2235/3232 , C04B2235/3272 , C04B2235/3279 , C04B2235/3286 , C04B2235/5436 , C04B2235/5445 , C04B2235/608 , C04B2235/661 , C04B2235/725 , C04B2235/764 , C04B2235/77 , C09K11/7774 , G01T1/20 , G21K2004/06
Abstract: 本发明提供一种在放射线检测器中，发光强度高、且停止照射X射线后经1～10ms短时间后残光小的荧光材料。以Ce作为发光元素，至少包含Gd、Al、Ga、O及Fe，M为Mg、Ti、Ni中的至少一种，可以用下述通式表示。(Gd1－x－zLuxCez)3+a(Al1－u－sGauScs)5－aO12，其中0≤a≤0.15，0≤x≤0.5，0.0003≤z≤0.0167，0.2≤u≤0.6，0≤s≤0.1，Fe、M的浓度为：0.05≤Fe浓度质量ppm≤1，0≤M浓度质量ppm≤50。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101617023B
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN200880003871.1
申请日：2008-02-04
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G21K4/00 , C01F17/0018 , C01G15/00 , C01G15/006 , C04B35/01 , C04B35/44 , C04B35/6261 , C04B35/6455 , C04B2235/3206 , C04B2235/3224 , C04B2235/3229 , C04B2235/3232 , C04B2235/3272 , C04B2235/3279 , C04B2235/3286 , C04B2235/5436 , C04B2235/5445 , C04B2235/608 , C04B2235/661 , C04B2235/725 , C04B2235/764 , C04B2235/77 , C09K11/7774 , G01T1/20 , G21K2004/06
Abstract: 本发明提供一种在放射线检测器中，发光强度高、且停止照射X射线后经1～10ms短时间后残光小的荧光材料。以Ce作为发光元素，至少包含Gd、Al、Ga、O及Fe，M为Mg、Ti、Ni中的至少一种，可以用下述通式表示。(Gd1-x-zLuxCez)3+a(Al1-u-sGauScs)5-aO12，其中0≤a≤0.15，0≤x≤0.5，0.0003≤z≤0.0167，0.2≤u≤0.6，0≤s≤0.1，Fe、M的浓度为：0.05≤Fe浓度质量ppm≤1，0≤M浓度质量ppm≤50。
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公开(公告)号：CN102869748B
公开(公告)日：2015-01-07
申请号：CN201180021845.3
申请日：2011-10-25
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G21K4/00 , C09K11/7771 , C09K11/7774
Abstract: 提供一种软X射线检测用多晶闪烁器，其含有作为发光元素的Ce和至少Y、Gd、Al、Ga及O，且具有石榴石结晶构造，具有以下述一般式：(Y1-x-zGdxCez)3+a(Al1-uGau)5-aO12(其中，0≤a≤0.1，0.15≤x≤0.3，0.002≤z≤0.015，及0.35≤u≤0.55)表示的组成，Fe含量以独占比例算为0.05～1质量ppm，Si的含量以独占比例算为0.5～10质量ppm，50keV的X射线的吸收系数μ50与100keV的X射线的吸收系数μ100之比μ50/μ100为3以上，X射线停止后3ms后的余辉为800ppm以下。
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公开(公告)号：CN101638578B
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN200910162281.X
申请日：2009-07-31
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G21K4/00 , C01F17/0025 , C01G15/006 , C01P2002/50 , C01P2002/54 , C01P2002/84 , C01P2006/12 , C04B35/44 , C04B35/6455 , C04B2235/3217 , C04B2235/3224 , C04B2235/3229 , C04B2235/3286 , C04B2235/5409 , C04B2235/5436 , C04B2235/5445 , C04B2235/604 , C04B2235/6585 , C04B2235/661 , C04B2235/728 , C04B2235/764 , C04B2235/77 , C09K11/7774
Abstract: 本发明涉及一种荧光材料及采用该荧光材料的闪烁器和放射线检测器。所述荧光材料的特征在于，以Ce作为发光元素，至少含有Gd、Al、Ga、O及Si，M为Mg、Ti、Ni中的至少一种，以下面的通式表示：(Gd1-x-zLuxCez)3+a(Al1-u-sGauScs)5-aO12。其中：0≤a≤0.15，0≤x≤0.5，0.0003≤z≤0.0167，0.2≤u≤0.6，0≤s≤0.1，Si、M的浓度为：0.5≤Si浓度质量ppm≤10，0≤M浓度质量ppm≤50。该荧光材料具有发光强度高并且在X射线停止照射1-300ms后残光低的特点。
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公开(公告)号：CN102869748A
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN201180021845.3
申请日：2011-10-25
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G21K4/00 , C09K11/7771 , C09K11/7774
Abstract: 本发明提供一种软X射线检测用多晶闪烁器，其含有作为发光元素的Ce和至少Y、Gd、Al、Ga及O，且具有石榴石结晶构造，具有以下述一般式：(Y1-x-zGdxCez)3+a(Al1-uGau)5-aO12(其中，0≤a≤0.1，0.15≤x≤0.3，0.002≤z≤0.015，及0.35≤u≤0.55)表示的组成，Fe含量以独占比例算为0.05～1质量ppm，Si的含量以独占比例算为0.5～10质量ppm，50keV的X射线的吸收系数μ50与100keV的X射线的吸收系数μ100之比μ50/μ100为3以上，X射线停止后3ms后的余辉为800ppm以下。
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公开(公告)号：CN101638578A
公开(公告)日：2010-02-03
申请号：CN200910162281.X
申请日：2009-07-31
Applicant: 日立金属株式会社
CPC classification number: G21K4/00 , C01F17/0025 , C01G15/006 , C01P2002/50 , C01P2002/54 , C01P2002/84 , C01P2006/12 , C04B35/44 , C04B35/6455 , C04B2235/3217 , C04B2235/3224 , C04B2235/3229 , C04B2235/3286 , C04B2235/5409 , C04B2235/5436 , C04B2235/5445 , C04B2235/604 , C04B2235/6585 , C04B2235/661 , C04B2235/728 , C04B2235/764 , C04B2235/77 , C09K11/7774
Abstract: 本发明涉及一种荧光材料及采用该荧光材料的闪烁器和放射线检测器。所述荧光材料的特征在于，以Ce作为发光元素，至少含有Gd、Al、Ga、O及Si，M为Mg、Ti、Ni中的至少一种，以下面的通式表示：(Gd 1-x-z Lu x Ce z ) 3+a (Al 1-u-s Ga u Sc s ) 5-a O 12 。其中：0≤a≤0.15，0≤x≤0.5，0.0003≤z≤0.0167，0.2≤u≤0.6，0≤s≤0.1，Si、M的浓度为：0.5≤Si浓度质量ppm≤10，0≤M浓度质量ppm≤50。该荧光材料具有发光强度高并且在X射线停止照射1-300ms后残光低的特点。
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