-
公开(公告)号：CN101866656A
公开(公告)日：2010-10-20
申请号：CN200910172877.8
申请日：2009-09-07
Applicant: 日立民用电子株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10212 , G11B20/10296 , G11B20/10481 , G11B20/1816 , G11B20/182 , G11B20/22 , G11B20/225 , G11B2220/2541
Abstract: 在约束长度为5以上的大容量光盘系统中，在为评价再生信号的品质而进行二值化比特列和规定的评价比特列的一致性判定，计算欧几里德距离时，对应PRML方式的约束长度的增大，电路规模按指数增大。在此提供一种高效且可靠性高的再生信号的评价方法以及使其该方法的光盘装置。将规定的评价比特列中包含的2T的连续数设为i，考虑将评价比特列分为(5+2i)的长度的主比特列以及两侧的副比特列。把二值化比特列中是否包含规定的评价比特列的判定处理归纳为主比特列的一致性判定。由此，来防止电路规模的增大。同时通过对于每个主比特列，分离地累计再生信号与和评价比特列对应的目标信号的欧几里德距离的计算结果，就可以削减评价累计电路的规模。
-
公开(公告)号：CN103308968A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310051641.5
申请日：2013-02-04
Applicant: 日立民用电子株式会社
CPC classification number: G02B5/3066 , G02B5/3058
Abstract: 本发明提供一种光学元件及其制造方法。所述光学元件是兼具有反射镜和偏振元件的功能的新型光学元件。在构成线栅构造WG的凹凸形状部的第一面和第二面中，使远离光(电磁波)的入射侧的第一面(表面SUR1)的表面粗糙度大于靠近光(电磁波)的入射侧的第二面(表面SUR2)的表面粗糙度。由此，根据本实施方式，能够实现反射型偏振元件，因此能够提供具有优异的耐光热性、并且也有助于削减成本的光学元件。
-
公开(公告)号：CN101882452A
公开(公告)日：2010-11-10
申请号：CN200910168240.1
申请日：2009-08-20
Applicant: 日立民用电子株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B7/1267 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10212 , G11B20/10296 , G11B20/10481 , G11B20/1816 , G11B20/182 , G11B20/22 , G11B20/225 , G11B2220/2541 , H03M13/41
Abstract: 本发明提供一种记录条件的调整方法和光盘装置，能够实现高效的、且可靠性高的再现信号的评价方法和利用该评价方法的光盘装置。设规定的评价位列中包含的2T的连续数为i，考虑使评价位列成为(5+2i)的长度的位列，实施二进制化位列中是否包含规定的评价位列的判定处理。另外，预先准备从对应于评价位列的目标信号、和自二进制化位列生成的目标信号得到的误差矢量，根据判定处理结果对其进行选择。并且计算由从二进制化位列生成的目标信号和再现信号得到的均衡误差矢量，运算和所选择的误差矢量的内积，由此能够消减再现信号评价所需要的电路规模。
-
公开(公告)号：CN101840713A
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN201010115666.3
申请日：2010-02-11
Applicant: 日立民用电子株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/0037 , G11B7/1267
Abstract: 本发明提供一种光信息记录再生方法、装置以及介质。在通常的光盘中，由于环境温度、激光器温度或介质的记录灵敏度的变化等，有时需要在记录过程中再次设定记录条件。在对比光学分辨率小的记录标记进行再生，以记录数据的高密度化为目的的超分辨率光盘中，由于再生信号品质较大地取决于超分辨率再生功率，所以需要与记录条件的再设定一同再设定超分辨率再生条件。在检测记录条件从最佳值的偏移，求出最佳记录功率的测试记录的过程中，在变更记录功率的同时变更超分辨率再生功率。此时，希望与记录功率成比例地变更超分辨率再生功率。
-
公开(公告)号：CN101866656B
公开(公告)日：2013-03-20
申请号：CN200910172877.8
申请日：2009-09-07
Applicant: 日立民用电子株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10212 , G11B20/10296 , G11B20/10481 , G11B20/1816 , G11B20/182 , G11B20/22 , G11B20/225 , G11B2220/2541
Abstract: 在约束长度为5以上的大容量光盘系统中，在为评价再生信号的品质而进行二值化比特列和规定的评价比特列的一致性判定，计算欧几里德距离时，对应PRML方式的约束长度的增大，电路规模按指数增大。在此提供一种高效且可靠性高的再生信号的评价方法以及使其该方法的光盘装置。将规定的评价比特列中包含的2T的连续数设为i，考虑将评价比特列分为(5+2i)的长度的主比特列以及两侧的副比特列。把二值化比特列中是否包含规定的评价比特列的判定处理归纳为主比特列的一致性判定。由此，来防止电路规模的增大。同时通过对于每个主比特列，分离地累计再生信号与和评价比特列对应的目标信号的欧几里德距离的计算结果，就可以削减评价累计电路的规模。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101840713B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201010115666.3
申请日：2010-02-11
Applicant: 日立民用电子株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/0037 , G11B7/1267
Abstract: 本发明提供一种光信息记录再生方法、装置以及介质。在通常的光盘中，由于环境温度、激光器温度或介质的记录灵敏度的变化等，有时需要在记录过程中再次设定记录条件。在对比光学分辨率小的记录标记进行再生，以记录数据的高密度化为目的的超分辨率光盘中，由于再生信号品质较大地取决于超分辨率再生功率，所以需要与记录条件的再设定一同再设定超分辨率再生条件。在检测记录条件从最佳值的偏移，求出最佳记录功率的测试记录的过程中，在变更记录功率的同时变更超分辨率再生功率。此时，希望与记录功率成比例地变更超分辨率再生功率。
-
公开(公告)号：CN102157158A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN201110031418.5
申请日：2009-09-07
Applicant: 日立民用电子株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10212 , G11B20/10296 , G11B20/10481 , G11B20/1816 , G11B20/182 , G11B20/22 , G11B20/225 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明提供一种记录条件的调整方法以及光盘装置。在约束长度为5以上的大容量光盘系统中，在为评价再生信号的品质而进行二值化比特列和规定的评价比特列的一致性判定，计算欧几里德距离时，对应PRML方式的约束长度的增大，电路规模按指数增大。将规定的评价比特列中包含的2T的连续数设为i，考虑将评价比特列分为(5+2i)的长度的主比特列以及两侧的副比特列。把二值化比特列中是否包含规定的评价比特列的判定处理归纳为主比特列的一致性判定。由此，来防止电路规模的增大。同时通过对于每个主比特列，分离地累计再生信号与和评价比特列对应的目标信号的欧几里德距离的计算结果，就可以削减评价累计电路的规模。
-
公开(公告)号：CN101794585A
公开(公告)日：2010-08-04
申请号：CN200910172878.2
申请日：2009-09-07
Applicant: 日立民用电子株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10212 , G11B20/10296 , G11B20/1816 , G11B20/182 , G11B2220/2541 , H03M13/39 , H03M13/6343
Abstract: 本发明涉及高效且高可靠性的再生信号的评价方法以及使用该方法的光盘装置。在约束长度为5以上的大容量光盘系统中，在为了评价再生信号的品质而进行二进制比特列与预定评价比特列的一致判定来计算欧几里德距离时，随着PRML方式的约束长度的增加，电路规模呈指数性地增大。设预定评价比特列中包含的2T连续数量为i，考虑将评价比特列划分为(5+2i)长度的主比特列和两侧的副比特列。二进制比特列中是否含有预定评价比特列的判定处理，被汇总为主比特列的一致判定。由此来防止电路规模的增大。同时，通过针对每一主比特列独立地统计再生信号和评价比特列对应的目标信号之间的欧几里德距离的计算结果，可以削减评价统计电路的规模。
-
公开(公告)号：CN102157158B
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201110031418.5
申请日：2009-09-07
Applicant: 日立民用电子株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10212 , G11B20/10296 , G11B20/10481 , G11B20/1816 , G11B20/182 , G11B20/22 , G11B20/225 , G11B2220/2541
Abstract: 本发明提供一种记录条件的调整方法以及光盘装置。在约束长度为5以上的大容量光盘系统中，在为评价再生信号的品质而进行二值化比特列和规定的评价比特列的一致性判定，计算欧几里德距离时，对应PRML方式的约束长度的增大，电路规模按指数增大。将规定的评价比特列中包含的2T的连续数设为i，考虑将评价比特列分为(5+2i)的长度的主比特列以及两侧的副比特列。把二值化比特列中是否包含规定的评价比特列的判定处理归纳为主比特列的一致性判定。由此，来防止电路规模的增大。同时通过对于每个主比特列，分离地累计再生信号与和评价比特列对应的目标信号的欧几里德距离的计算结果，就可以削减评价累计电路的规模。
-
公开(公告)号：CN101882452B
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN200910168240.1
申请日：2009-08-20
Applicant: 日立民用电子株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B7/1267 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10212 , G11B20/10296 , G11B20/10481 , G11B20/1816 , G11B20/182 , G11B20/22 , G11B20/225 , G11B2220/2541 , H03M13/41
Abstract: 本发明提供一种记录条件的调整方法和光盘装置，能够实现高效的、且可靠性高的再现信号的评价方法和利用该评价方法的光盘装置。设规定的评价位列中包含的2T的连续数为i，考虑使评价位列成为(5+2i)的长度的位列，实施二进制化位列中是否包含规定的评价位列的判定处理。另外，预先准备从对应于评价位列的目标信号、和自二进制化位列生成的目标信号得到的误差矢量，根据判定处理结果对其进行选择。并且计算由从二进制化位列生成的目标信号和再现信号得到的均衡误差矢量，运算和所选择的误差矢量的内积，由此能够消减再现信号评价所需要的电路规模。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
13
records
(took 0.028 seconds)
