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公开(公告)号:CN1768417A
公开(公告)日:2006-05-03
申请号:CN200480009086.9
申请日:2004-04-02
Applicant: 日立化成工业株式会社
IPC: H01L21/304 , B24B37/00
Abstract: 本发明的研磨垫为,由含有有机纤维的纤维和保持该纤维的基体树脂构成,并且至少在修整处理后的被研磨物侧表面露出有机纤维。由此,可以抑制被研磨物产生细小的研磨损伤,能够在低荷重条件下进行平坦的研磨。另外,也可以采用以光学方法检测被研磨物的研磨状态的系统,在没有研磨损伤的条件下管理被研磨物的研磨终点。因此,在例如半导体装置的制造工序中,可以进行对层间绝缘膜的负荷小且平坦性也优异的研磨,容易地实施下一代的双重镶嵌法。