公开(公告)号：CN101796381A

公开(公告)日：2010-08-04

申请号：CN200880104958.8

申请日：2008-09-01

Applicant: 日本碍子株式会社

Inventor： 波多野达彦 ,  宫下晃一 ,  四方功

IPC: G01M3/20 ,  G01M3/00 ,  G01M3/38 ,  G01N15/08 ,  G01N21/88

CPC classification number: G01M3/38 ,  G01N21/4738 ,  G01N21/88 ,  G01N21/95692 ,  G01N2015/0846

Abstract: 本发明提供一种被检体的缺陷检查方法，其包括以下过程：(1)将含有微粒的气体加压后送出到被检体的一个端面，在被检体的另一端面附近与所述另一端面平行地照射第一激光，而且从与所述另一端面垂直的位置对所述另一端面进行拍摄的过程；(2)将含有微粒的气体加压后送出到被检体的一个端面，在被检体的另一端面附近与所述另一端面平行地照射第二激光，而且从与所述另一端面垂直的位置对所述另一端面进行拍摄的过程；以及(3)根据所述过程(1)和过程(2)的拍摄结果来确定被检体的缺陷部位的过程。

公开(公告)号：CN101796381B

公开(公告)日：2013-05-01

申请号：CN200880104958.8

申请日：2008-09-01

Applicant: 日本碍子株式会社

Inventor： 波多野达彦 ,  宫下晃一 ,  四方功

IPC: G01M3/20 ,  G01M3/00 ,  G01M3/38 ,  G01N15/08 ,  G01N21/88

CPC classification number: G01M3/38 ,  G01N21/4738 ,  G01N21/88 ,  G01N21/95692 ,  G01N2015/0846

Abstract: 本发明提供一种被检体的缺陷检查方法，其包括以下过程：(1)将含有微粒的气体加压后送出到被检体的一个端面，在被检体的另一端面附近与所述另一端面平行地照射第一激光，而且从与所述另一端面垂直的位置对所述另一端面进行拍摄的过程；(2)将含有微粒的气体加压后送出到被检体的一个端面，在被检体的另一端面附近与所述另一端面平行地照射第二激光，而且从与所述另一端面垂直的位置对所述另一端面进行拍摄的过程；以及(3)根据所述过程(1)和过程(2)的拍摄结果来确定被检体的缺陷部位的过程。

公开(公告)号：CN1463373A

公开(公告)日：2003-12-24

申请号：CN02801939.3

申请日：2002-02-12

Applicant: 日本碍子株式会社

Inventor： 武内幸久 ,  七泷努 ,  大和田严 ,  四方功 ,  佐藤圭

IPC: G02B26/08 ,  G09F9/30

CPC classification number: G02B6/0071 ,  G02B6/0068 ,  G02B26/0833 ,  G02F1/313 ,  G02F2203/023 ,  G02F2203/62

Abstract: 提供一种由以下部件构成的显示器的光学系统：用以导入光线的导光板；设置成面对导光板的一个板表面的面板部分，该面板部分包括配置了致动元件的驱动部件，每一个致动元件与多个像素相对应，以便与输入的图像信号的属性对应地沿着接触/分离的方向控制致动元件向着/离开上述导光板做位移运动，从而控制导光板在所述导光板预定区域的泄漏光束，使导光板显示对应于图像信号的图像。