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公开(公告)号:CN113166960B
公开(公告)日:2024-11-29
申请号:CN201980081177.X
申请日:2019-12-03
Applicant: 日本电解株式会社
Abstract: 本发明提供一种具有更高导电率的电解铜箔及其制造方法。本发明的电解铜箔中,碳含量为5ppm以下,硫含量为3ppm以下,氧含量为5ppm以下,氮含量为0.5ppm以下,并且碳、硫、氧、氮及氢的总含量为15ppm以下,晶粒数为8.0~12.0个/μm2,并且通过在150℃下对电解铜箔加热1小时,所述晶粒数变为0.6~1.0个/μm2。所述电解铜箔的制造方法包括:清洗工序,清洗铜原料;溶解工序,溶解所述清洗后的铜原料得到总有机碳量(TOC)为10ppm以下的电解液;以及电解工序,通过电解该电解液来得到电解铜箔。
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公开(公告)号:CN113166960A
公开(公告)日:2021-07-23
申请号:CN201980081177.X
申请日:2019-12-03
Applicant: 日本电解株式会社
Abstract: 本发明提供一种具有更高导电率的电解铜箔及其制造方法。本发明的电解铜箔中,碳含量为5ppm以下,硫含量为3ppm以下,氧含量为5ppm以下,氮含量为0.5ppm以下,并且碳、硫、氧、氮及氢的总含量为15ppm以下,晶粒数为8.0~12.0个/μm2,并且通过在150℃下对电解铜箔加热1小时,所述晶粒数变为0.6~1.0个/μm2。所述电解铜箔的制造方法包括:清洗工序,清洗铜原料;溶解工序,溶解所述清洗后的铜原料得到总有机碳量(TOC)为10ppm以下的电解液;以及电解工序,通过电解该电解液来得到电解铜箔。
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