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公开(公告)号：CN115388810A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202210577180.4
申请日：2022-05-25
Applicant: 日本电产株式会社
Inventor： 大塚祐司 , 吉冈大哉 , 井上和典 , 大岛佳祐 , 江川智浩
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明提供一种测定装置，其是光学单元的测定装置。光学单元包括光学元件和使光学元件摆动的摆动机构。测定装置具备支承部、驱动部和测定部。支承部支承光学单元。驱动部驱动摆动机构，使光学元件摆动。测定部测定光学元件的摆动角度。
