公开(公告)号：CN104076051A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201410111443.8

申请日：2014-03-24

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 佐久田昌博 ,  长谷川清 ,  的场吉毅

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/317 ,  G01N2223/652

Abstract: 本发明提供荧光X射线分析装置，其能够检测载置于落下防止板上的异物。该荧光X射线分析装置具有：试样台，其在X射线照射位置处具有孔部，能够在孔部上设置试样；X射线源，其从下方对试样照射原级X射线（X1）；检测器，其相对于孔部配置在下方，对从被照射原级X射线的试样产生的荧光X射线（X2）进行检测；透明的落下防止板，其以能够进退的方式支承在孔部的正下方；驱动机构，其使落下防止板进退；观察用照相机，其设置在孔部的下方，能够对位于孔部的正下方时的落下防止板进行观察；以及运算部，其对由观察用照相机拍摄到的落下防止板的图像进行处理，运算部根据落下防止板移动或振动前后的图像的差分，检测落下防止板上的异物。

公开(公告)号：CN102384924B

公开(公告)日：2015-08-12

申请号：CN201110270780.8

申请日：2011-08-31

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 长谷川清 ,  一宫丰 ,  泷口英树

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明提供作业效率高且安全地进行试样测定的荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法。荧光X射线分析装置(100)包括：放射线源(2)，对试样(S)上的照射点(P1)照射放射线；X射线检测器(3)；移动机构(8)，能将试样相对于放射线源和X射线检测器移动；壳体(10)；门(20)，开关试样进出壳体内外的开口(10a)；高度测定机构(7)，能测定照射点的高度；移动机构控制部(9)，基于测定的照射点高度调整试样到放射线源及X射线检测器的距离；激光部(7)，对照射点照射可见光激光；激光部工作控制部(9)，门为开状态时，使激光部工作以照射可见光激光，且门为关状态时，停止激光部；以及高度测定机构工作控制部(9)，门为开状态时，使高度测定机构工作以测定照射点高度。

公开(公告)号：CN101661008B

公开(公告)日：2014-11-05

申请号：CN200910168603.1

申请日：2009-08-28

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 长谷川清 ,  小泽哲郎

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明提供如下的荧光X射线分析装置：通过与过去的测定结果信息的比较，能够进行容易的变化点管理。荧光X射线分析装置具有：输入部，其输入用于确定被测定物的特定信息；摄像部，其取得所述被测定物的测定部位图像；显示部，其在荧光X射线的测定后，至少显示被测定物的分析结果；以及数据库，其存储与所述特定信息对应的过去的测定信息，所述测定信息包含被测定物的测定部位图像和分析结果，所述显示部在荧光X射线的测定条件设定时，至少能够同时显示由所述摄像部得到的所述被测定物的测定部位图像、和存储在所述数据库中的测定信息中的与由所述输入部输入的特定信息对应的测定信息包含的所述被测定物的过去测定时的测定部位图像。

公开(公告)号：CN103575757A

公开(公告)日：2014-02-12

申请号：CN201310345457.1

申请日：2013-08-09

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 佐久田昌博 ,  坂井范昭 ,  长谷川清

IPC: G01N23/223

Abstract: 荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置。在利用了荧光X射线分析的有害元素的质量管理中，对样本分析所需的时间进行优化并实现判断的自动化。作为解决手段，提供如下的X射线分析方法和采用了该方法的X射线分析装置：将多个分析条件和对象元素的管理基准作为一组测定，能够设定将最初的组设为简易分析、将之后的组设为精密分析的多个组的测定，在组之间设置判断步骤，判断是否需要下一组的测定。