公开(公告)号：CN105548228A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201510697826.2

申请日：2015-10-23

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 广濑龙介 ,  高桥春男

IPC: G01N23/223 ,  G01B15/02

CPC classification number: H01J35/16 ,  G01N23/223 ,  H01J35/06 ,  H01J35/08 ,  H05G1/02

Abstract: 本发明提供X射线产生源和具有其的荧光X射线分析装置。该X射线产生源能够通过简易结构抑制X射线产生位置与用于限定X射线照射区域的机构的位置偏移，其具备对试样(S)照射一次X射线(X1)的X射线管球(2)、收纳X射线管球的壳体(3)、限制一次X射线对于试样的照射面积的X射线照射区域限定机构(4)、以及在壳体上保持X射线照射区域限定机构的机构保持部(5)，X射线管球具备筐体(6)、产生电子线的电子线源(7)、及基端固定在筐体上且在突出的前端部被照射电子线的靶部(8)，机构保持部具有在靶部的基端的正下方固定在壳体上的基端固定部(5a)、及从基端固定部沿着靶部的突出方向延伸并支承X射线照射区域限定机构的延伸支承部(5b)。

公开(公告)号：CN105548228B

公开(公告)日：2018-07-24

申请号：CN201510697826.2

申请日：2015-10-23

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 广濑龙介 ,  高桥春男

IPC: G01N23/223 ,  G01B15/02

CPC classification number: H01J35/16 ,  G01N23/223 ,  H01J35/06 ,  H01J35/08 ,  H05G1/02

Abstract: 本发明提供X射线产生源和具有其的荧光X射线分析装置。该X射线产生源能够通过简易结构抑制X射线产生位置与用于限定X射线照射区域的机构的位置偏移，其具备对试样(S)照射一次X射线(X1)的X射线管球(2)、收纳X射线管球的壳体(3)、限制一次X射线对于试样的照射面积的X射线照射区域限定机构(4)、以及在壳体上保持X射线照射区域限定机构的机构保持部(5)，X射线管球具备筐体(6)、产生电子线的电子线源(7)、及基端固定在筐体上且在突出的前端部被照射电子线的靶部(8)，机构保持部具有在靶部的基端的正下方固定在壳体上的基端固定部(5a)、及从基端固定部沿着靶部的突出方向延伸并支承X射线照射区域限定机构的延伸支承部(5b)。

公开(公告)号：CN105277579A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201510321618.2

申请日：2015-06-12

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 高桥春男 ,  广濑龙介 ,  八木勇夫 ,  高原稔幸

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明涉及荧光X射线分析装置。提供一种能够简便地进行与测定通常的样品的情况相同的条件下的校正测定的荧光X射线分析装置。所述荧光X射线分析装置具备：X射线源；用于对将来自该X射线源的X射线作为一次X射线照射到样品的区域进行限制的照射区域限制单元；用于检测从样品产生的二次X射线的检测器；用于对包含X射线源、照射区域限制单元和检测器的装置进行校正的校正用样品；用于在作为保持该校正用样品并且从所述一次X射线的路径偏离的任意的位置的退避位置和照射从照射区域限制单元射出的X射线的一次X射线照射位置这2个位置之间移动的校正样品移动机构；以及载置样品的样品台，校正样品移动机构为与所述样品台独立的机构。

公开(公告)号：CN105277579B

公开(公告)日：2019-05-21

申请号：CN201510321618.2

申请日：2015-06-12

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 高桥春男 ,  广濑龙介 ,  八木勇夫 ,  高原稔幸

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明涉及荧光X射线分析装置。提供一种能够简便地进行与测定通常的样品的情况相同的条件下的校正测定的荧光X射线分析装置。所述荧光X射线分析装置具备：X射线源；用于对将来自该X射线源的X射线作为一次X射线照射到样品的区域进行限制的照射区域限制单元；用于检测从样品产生的二次X射线的检测器；用于对包含X射线源、照射区域限制单元和检测器的装置进行校正的校正用样品；用于在作为保持该校正用样品并且从所述一次X射线的路径偏离的任意的位置的退避位置和照射从照射区域限制单元射出的X射线的一次X射线照射位置这2个位置之间移动的校正样品移动机构；以及载置样品的样品台，校正样品移动机构为与所述样品台独立的机构。

公开(公告)号：CN104931517A

公开(公告)日：2015-09-23

申请号：CN201510110487.3

申请日：2015-03-13

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 广濑龙介

IPC: G01N23/223 ,  G01B15/02

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/323

Abstract: 本发明涉及X射线分析装置。提供能以直接观察容易判别样品的高度位置相对于初级X射线的焦点位置是远还是近的判别而易于位置调整的X射线分析装置。具备：样品台，能设置样品；X射线源，对样品照射初级X射线；检测器，检测从被照射初级X射线的样品产生的次级X射线；位置调整机构，调整样品台与初级X射线的相对位置；第一光源，向初级X射线的焦点位置或以与焦点位置相同高度在水平方向上离焦点位置规定距离的规定位置照射第一光线；以及第二光源，向焦点位置或规定位置从与第一光线和初级X射线不同角度照射第二光线，第一光线和第二光线具有在照射到样品台或样品台上的样品时在样品台上或样品台上的样品上能彼此以目视辨别的视觉辨认性。