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发明公开
测试方法、装置、设备及存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN116708260A

公开(公告)日：2023-09-05

申请号：CN202310910290.2

申请日：2023-07-21

Applicant: 无锡沐创集成电路设计有限公司

Inventor： 朱敏 , 花巍

IPC: H04L43/50 , H04L41/12

Abstract: 本公开提供了一种测试方法、装置、设备及存储介质，可以应用于计算机领域、测试领域。该方法可以应用于客户端，包括：响应于接收到来自服务端的测试报文，根据测试报文，确定测试拓扑信息，其中，测试拓扑信息基于节点测试信息构建得到；根据测试拓扑信息执行测试操作，得到与节点测试信息对应的节点测试结果；在测试操作中断的情况下，响应于接收到来自服务端的测试恢复报文，根据节点测试结果和测试拓扑信息，执行恢复测试操作，得到目标测试结果。

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