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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112527757A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201910879802.7
申请日：2019-09-18
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于大规模芯片测试结果的快速检索方法，包括以下步骤：对目录进行检查，将目录中的日志文件按照文件名进行升序排序，同时获取文件字节数，将数据列表存储入文件中；检查是否存在校验文件.checksum，如果是，执行下一步，否则对目录下的所有文件进行顺序入库，并将数据列表写入.checksum文件；将之前从该目录中获取的数据列表写入.checksum_new文件；读入该目录中的校验文件.checksum；对该目录中的校验文件.checksum和.checksum_new进行MD5值比对，判断这两个文件MD5值是否相同，如果是，结束操作，否则进入当前目录的子目录，继续判断子目录日志是否更新，直至检查完全部子目录；该方法通过对目录中的文件分层级并检索列表中临时文件的MD5值，达到快速定位更新目录或者更新文件的目的，提升检测效率。
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公开(公告)号：CN112433904A
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN201910788898.6
申请日：2019-08-26
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/263
Abstract: 本发明公开一种基于中间结果约束的浮点验证数据生成方法，包括以下步骤：S1、根据浮点操作中间结果的约束条件，构建更高精度的浮点数据；S2、获得高精度的浮点运算结果；S3、建立高低精度浮点结果的约束关系；S4、根据用户设定的浮点中间结果约束，对高精度浮点结果施加约束，获得约束集合子句；S5、根据S4中获得的约束集合子句构建合成CNF范式；S6、将S5中得到的CNF范式作为输入，采用第三方求解器进行求解，约束满足则输出求解结果，否则输出不满足；S7、根据S6中的求解结果进行解析，形成一组浮点验证元组数据。本发明解决了中间结果约束建模复杂性并由此可能带来的测试覆盖不全的问题，提高了浮点测试的效率和覆盖率。
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公开(公告)号：CN112527757B
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN201910879802.7
申请日：2019-09-18
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于大规模芯片测试结果的快速检索方法，包括以下步骤：对目录进行检查，将目录中的日志文件按照文件名进行升序排序，检查是否存在校验文件.checksum，如果是，执行下一步，否则对目录下的所有文件进行顺序入库，并将数据列表写入.checksum文件；将之前从该目录中获取的数据列表写入.checksum_new文件；读入该目录中的校验文件.checksum；对该目录中的校验文件.checksum和.checksum_new进行MD5值比对，判断这两个文件MD5值是否相同，如果是，结束操作；该方法通过对目录中的文件分层级并检索，达到快速定位更新目录或者更新文件的目的，提升检测效率。
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公开(公告)号：CN112416666A
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201910771716.4
申请日：2019-08-21
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开一种自检随机测试方法及随机循环测试装置，S1、控制单元调用随机指令生成器，并将随机指令生成器生成的运算控制核心的随机指令段和运算核心的随机指令段分别嵌入运算控制核心的程序框架和运算核心的程序框架中，形成汇编程序；S2、控制单元根据程序结构调用编译脚本，将生成的汇编程序编译成可执行的随机测试程序；S3、编译完成后，控制单元调用测试管理系统运行S2中生成的可执行的随机测试程序，并监控测试结果；S4、测试完返回控制单元，等待产生新的随机测试程序，进行下一次测试。本发明通过生成不需要依赖模拟器的随机测试程序，更高效地暴露更多的处理器软硬件设计及环境问题，弥补硅前验证效率低、覆盖不全面的问题。
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公开(公告)号：CN112416666B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN201910771716.4
申请日：2019-08-21
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开一种自检随机测试方法及随机循环测试装置，S1、控制单元调用随机指令生成器，并将随机指令生成器生成的运算控制核心的随机指令段和运算核心的随机指令段分别嵌入运算控制核心的程序框架和运算核心的程序框架中，形成汇编程序；S2、控制单元根据程序结构调用编译脚本，将生成的汇编程序编译成可执行的随机测试程序；S3、编译完成后，控制单元调用测试管理系统运行S2中生成的可执行的随机测试程序，并监控测试结果；S4、测试完返回控制单元，等待产生新的随机测试程序，进行下一次测试。本发明通过生成不需要依赖模拟器的随机测试程序，更高效地暴露更多的处理器软硬件设计及环境问题，弥补硅前验证效率低、覆盖不全面的问题。
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