公开(公告)号：CN118962953A

公开(公告)日：2024-11-15

申请号：CN202410959450.7

申请日：2024-07-17

Applicant: 无锡学院

Inventor： 余伟 ,  王绶玙

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/36 ,  G01N21/64

Abstract: 本发明涉及光学成像技术领域，具体涉及一种基于局域光场重聚焦定位和成像面动态反馈调整的实时三维示踪成像装置及方法；本发明装置包括显微系统、光场成像系统和可变焦成像系统，其中显微系统用于提供光源和进行成像，光场成像系统用于确定目标物的轴向定位，可变焦成像系统用于高质量成像及目标物横向和轴向位置的精确定位；本发明通过搭建装置并进行标定、确定需要示踪的样品；针对某时刻进行样品定位及成像；重复上述成像步骤，最终得到实时三维示踪成像；本发明成像模式数量更多，且系统更为简单，从而为单分子成像、单颗粒示踪、病毒入侵研究等应用提供了新的技术手段。

公开(公告)号：CN119200089A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411605085.6

申请日：2024-11-12

Applicant: 无锡学院

Inventor： 曹悦 ,  王绶玙 ,  余伟 ,  郭薇

IPC: G02B6/12 ,  G02B6/122 ,  G02F1/01

Abstract: 本发明提供了一种全光开关及其制备方法，属于通讯技术领域。本发明提供的全光开关包括基底层100、构建在所述基底层100上表面的波导芯层和包覆在所述波导芯层外部的上包层600，所述波导芯层为非对称马赫‑曾德尔干涉仪型1×33D波导芯层，所述波导芯层的折射率均高于所述基底层100与所述上包层600；沿光入射方向，所述波导芯层顺次划分为输入区200、第一耦合区300、第二耦合区400与3D输出区500；位于所述第一耦合区300的波导芯层内部设置有复合掩埋层302，所述复合掩埋层302包括聚合物基体与掺杂在所述聚合物基体中的纳米粒子。本发明所述全光开关结构紧凑，且具有低功耗、低损耗和快速响应的特点。

公开(公告)号：CN119562147A

公开(公告)日：2025-03-04

申请号：CN202411651072.2

申请日：2024-11-19

Applicant: 无锡学院

Inventor： 王绶玙 ,  余伟 ,  孙瑷蕙 ,  曹悦 ,  郭薇

IPC: H04N23/50 ,  H04N23/54 ,  H04N23/55

Abstract: 本发明公开了一种双工作距视场无透镜编码单次曝光成像装置，所述装置包括：编码板、分光棱镜、第一图像传感器、第二图像传感器、控制系统和计算机；所述控制系统分别与第一图像传感器、第二图像传感器和计算机连接；所述编码板放置于分光棱镜前，用于调制目标样品的光信息；所述分光棱镜用于将目标样品的调制光分为两部分：一部分经反射后被第一图像传感器接收，另一部分经透射后被第二图像传感器接收。本发明能够在单次曝光采集针对同一编码板但是具有不同工作距点扩散函数的两幅编码图像的基础上，通过迭代算法重建出目标样品的信息。对高质量的无透镜编码动态成像具有重要的意义。

公开(公告)号：CN119126452A

公开(公告)日：2024-12-13

申请号：CN202411526444.9

申请日：2024-10-30

Applicant: 无锡学院

Inventor： 曹悦 ,  余伟 ,  王绶玙 ,  郭薇

IPC: G02F1/21 ,  G02F1/225 ,  G02F1/01 ,  G02B6/125 ,  G02B6/122 ,  G02B6/13 ,  G02B6/136

Abstract: 本发明提供了一种基于聚吡咯纳米粒子阵列的一阶模式全光开关芯片及其制备方法。所述芯片，包括衬底层，层上设有非对称马赫‑曾德尔干涉仪型波导芯层，波导芯层外部包覆有折射率低于MZI型波导的上包层。本发明结构紧凑、易于集成，能够广泛应用于光通信网络和光信号处理系统中。与传统的热光开关相比，本发明所述的全光开关芯片在省略电极结构的基础上，制备方法简单，具备更快的响应速度和更低的功耗。

公开(公告)号：CN119023578A

公开(公告)日：2024-11-26

申请号：CN202411173463.8

申请日：2024-08-26

Applicant: 无锡学院

Inventor： 余伟 ,  王绶玙 ,  曹悦 ,  郭薇

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/64 ,  G01N21/84

Abstract: 本发明公开了一种多模式实时显微成像装置及成像方法，包括由透射式光源，样品台，显微物镜样、落射式荧光光源、荧光激发滤光块、荧光发射滤光块、分光棱镜、第一～三镜筒透镜、第一～三一维平移台、第一～三图像传感器和计算机；落射式荧光光源经荧光激发滤光块后照射至样品；样品发射的后向荧光经显微物镜接收后，再经荧光发射滤光块，最后经第一镜筒透镜成像后被第一图像传感器接收。对于明场和相位显微成像，透射式光源经样品、显微物镜、荧光激发滤光块、荧光发射滤光块、分光稜镜和第二，三镜筒透镜后分别被两台图像传感器接收，实现明场欠焦和过焦显微图像的采集；进而根据采集图像计算明场和相位在焦显微图像。

公开(公告)号：CN118671044A

公开(公告)日：2024-09-20

申请号：CN202410959448.X

申请日：2024-07-17

Applicant: 无锡学院

Inventor： 余伟 ,  王绶玙 ,  刘斐 ,  单衍可

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明公开了一种基于倾斜光片微流扫描的单分子快速检测装置和方法，所述装置包括：激光光源、激光扩束系统、可调光阑、精密平移台、荧光滤光块、显微物镜、微流通道、蠕动泵、棱镜、空间光调制器、镜筒透镜、EMCCD相机和电脑。所述方法包括：对二氧化硅内部进行直写并进行处理，制备得到微流通道；对待测样品进行预处理；基于单分子快速检测装置对待测样品进行单分子检测。本发明可以实现准确、快速、灵敏的单分子检测，从而为单分子检测提供新的技术手段。