辉光放电质谱法检测氢氧化铝中杂质元素含量的方法

    公开(公告)号:CN110186997A

    公开(公告)日:2019-08-30

    申请号:CN201910514238.9

    申请日:2019-06-14

    Abstract: 本发明公开了一种辉光放电质谱法检测氢氧化铝中杂质元素含量的方法,涉及无机材料痕量元素分析技术领域,解决了氢氧化铝样品中因含有结晶水,导致GD-MS放电不稳定、基体信号强度低、重现性差等问题。本发明的主要技术方案为:将氢氧化铝高温煅烧成氧化铝粉末,然后将氧化铝粉末压制于高纯钽块中小于放电半径的通孔内,通过辉光放电质谱仪检测氧化铝试样中杂质元素的含量。

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