公开(公告)号：CN111309865B

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202010087760.6

申请日：2020-02-12

Applicant: 扬州大学

Inventor： 李斌 ,  余笙 ,  孙小兵

IPC: G06F16/33 ,  G06F16/36 ,  G06F16/901 ,  G06F16/903

Abstract: 本发明公开了一种相似缺陷报告推荐方法、系统、计算机设备和存储介质，方法包括：对新缺陷报告进行预处理，构建该缺陷报告的第一实体集合S1；计算集合S1中每个实体的TF‑IDF值，并按照TF‑IDF值对实体进行降序排列，构建第二实体集合S2；针对集合S2中的每个实体S，结合缺陷知识图谱，查询与新缺陷报告通过实体S相关联的缺陷报告，构建第一缺陷报告集合Buglist1；针对集合Buglist1中的每个关联缺陷报告b，求取其与新缺陷报告的余弦相似度，构建第二缺陷报告集合Buglist2；求取集合Buglist1与Buglist2对应位置元素的相似度值，构建第三缺陷报告集合Buglist3；结合集合Buglist3和缺陷知识图谱，返回新缺陷报告的相似缺陷报告列表。本发明能显著提高相似缺陷报告推荐的准确度。

公开(公告)号：CN111309865A

公开(公告)日：2020-06-19

申请号：CN202010087760.6

申请日：2020-02-12

Applicant: 扬州大学

Inventor： 李斌 ,  余笙 ,  孙小兵

IPC: G06F16/33 ,  G06F16/36 ,  G06F16/901 ,  G06F16/903

Abstract: 本发明公开了一种相似缺陷报告推荐方法、系统、计算机设备和存储介质，方法包括：对新缺陷报告进行预处理，构建该缺陷报告的第一实体集合S1；计算集合S1中每个实体的TF-IDF值，并按照TF-IDF值对实体进行降序排列，构建第二实体集合S2；针对集合S2中的每个实体S，结合缺陷知识图谱，查询与新缺陷报告通过实体S相关联的缺陷报告，构建第一缺陷报告集合Buglist1；针对集合Buglist1中的每个关联缺陷报告b，求取其与新缺陷报告的余弦相似度，构建第二缺陷报告集合Buglist2；求取集合Buglist1与Buglist2对应位置元素的相似度值，构建第三缺陷报告集合Buglist3；结合集合Buglist3和缺陷知识图谱，返回新缺陷报告的相似缺陷报告列表。本发明能显著提高相似缺陷报告推荐的准确度。