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公开(公告)号：CN109239163B
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN201810743720.5
申请日：2018-07-09
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC: G01N27/407 , G01N27/409
Abstract: 本发明涉及一种传感器，用于确定表示测量流体中的分析物含量的测量变量的测量值，包括：具有探针壳体的测量探针，该测量探针包括被设置用于浸入测量流体中的浸入区域；以及布置在所述浸入区域中的单层或多层膜，其中，该膜至少包括第一层，该第一层由聚合物形成并且包括当所述浸入区域被浸入测量流体中时与测量流体接触的超疏水表面。
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公开(公告)号：CN108007984A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201711014219.7
申请日：2017-10-26
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC: G01N27/30
CPC classification number: G01N27/404 , G01N27/30
Abstract: 本发明涉及测量探针和填充测量探针的探针内部的方法。测量探针用于测量表示测量介质中的分析物浓度的测量变量，包括：探针壳体，至少具有第一和第二壳体部分，其中第一壳体部分被设计成盖的形状，特别是筒状盖，其在前端由传感器膜封闭，并且在与前端相对的后端上尤其是通过螺纹或插头连接可拆卸地连接到第二壳体部分，使得第二壳体部分在其后端封闭盖，并且第一和第二壳体部分包围由传感器膜密封的探针内部；能流动的电解液，特别是流体电解液，包含在探针内部内；至少一个通向探针内部的溢流通道；以及密封件，其在第一壳体部分的壁处和第二壳体部分的壁处，以将探针内部对于测量探针周围的区域密封并且同时密封溢流通道的方式邻接探针内部。
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公开(公告)号：CN112305036B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202010730331.6
申请日：2020-07-27
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC: G01N27/30 , G01N27/333 , G01N27/416 , G01N27/42 , G01N27/48 , G01N27/06
Abstract: 本发明涉及确定过程介质的化学吸入容量的测量点中的方法和测量点。该方法包括：提供过程介质流过的测量点和分析测量设备；闭合出口阀使得无过程介质通过出口阀排放到疏放管；闭合入口阀使得无额外过程介质从第一入口馈送到测量点且预定体积的过程介质位于测量点；通过入口阀从第二入口将预定体积的分析物馈送到测量点；通过泵循环分析物和过程介质而产生流动回路并使由泵设定其预定流速的分析物过程介质混合物流入分析测量设备；使用分析测量设备检测测量值；比较测量值与极限值；如测量值未超过极限值，重复馈送、循环、检测和比较的步骤，直到测量值超过极限值，馈送的预定体积相加形成分析物的总体积；基于总体积确定过程介质的化学吸入容量。
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公开(公告)号：CN112858264A
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN202110011687.9
申请日：2017-06-09
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
Abstract: 本发明涉及一种制造具有膜的传感器帽的方法。所述传感器帽具有至少一个主体和膜的传感器帽，特别是用于确定和/或监测测量介质中的分析物的浓度的光化学传感器或电化学传感器，涉及一种相应的传感器帽和一种相应的传感器。根据本发明，提供膜，该膜可透所述测量介质和/或测量介质中所含有的至少一种分析物，具有用于接触所述测量介质的表面，以及主体，该主体具有用于连接到膜的至少一个区段。最后，焊接至少一部分所述膜和所述主体，其中，所述膜至少部分地被施加到所述主体的至少一个区段，并且产生所述主体与所述膜之间的连接，该连接形成对测量介质的密封。
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公开(公告)号：CN107505377B
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201710441684.2
申请日：2017-06-13
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC: G01N27/416 , G01N27/30
Abstract: 本发明提供一种具有可更换电极组件的电化学传感器。本发明涉及一种用于生产电化学传感器(1)的可更换电极组件(18)的方法，该电极组件(18)具有至少一个传感器体(19)和至少第一电极(20)，该电化学传感器(1)用于确定气体或液体测量介质(17a)内的分析物(17b)的浓度；涉及一种对应的电极组件(18)；以及涉及一种具有根据本发明的电极组件(18)的电化学传感器(1)。为了生产电极组件(18)，执行以下方法步骤：设置传感器体(19)，和将至少第一导电材料施加到传感器体(19)的第一子区域(20a)，用于生产电极组件(18)的第一电极(20)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107505377A
公开(公告)日：2017-12-22
申请号：CN201710441684.2
申请日：2017-06-13
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC: G01N27/416 , G01N27/30
Abstract: 本发明提供一种具有可更换电极组件的电化学传感器。本发明涉及一种用于生产电化学传感器(1)的可更换电极组件(18)的方法，该电极组件(18)具有至少一个传感器体(19)和至少第一电极(20)，该电化学传感器(1)用于确定气体或液体测量介质(17a)内的分析物(17b)的浓度；涉及一种对应的电极组件(18)；以及涉及一种具有根据本发明的电极组件(18)的电化学传感器(1)。为了生产电极组件(18)，执行以下方法步骤：设置传感器体(19)，和将至少第一导电材料施加到传感器体(19)的第一子区域(20a)，用于生产电极组件(18)的第一电极(20)。
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公开(公告)号：CN107490572A
公开(公告)日：2017-12-19
申请号：CN201710432963.2
申请日：2017-06-09
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
CPC classification number: G01N21/01 , G01N21/7703 , G01N27/26 , G01N27/31 , G01N2021/772 , G01N2021/773 , G01N2021/7786 , G01N21/75 , G01N21/64
Abstract: 本发明涉及一种制造具有膜的传感器帽的方法。所述传感器帽具有至少一个主体和膜的传感器帽，特别是用于确定和/或监测测量介质中的分析物的浓度的光化学传感器或电化学传感器，涉及一种相应的传感器帽和一种相应的传感器。根据本发明，提供膜，该膜可透所述测量介质和/或测量介质中所含有的至少一种分析物，具有用于接触所述测量介质的表面，以及主体，该主体具有用于连接到膜的至少一个区段。最后，焊接至少一部分所述膜和所述主体，其中，所述膜至少部分地被施加到所述主体的至少一个区段，并且产生所述主体与所述膜之间的连接，该连接形成对测量介质的密封。
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公开(公告)号：CN112305035B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202010730127.4
申请日：2020-07-27
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC: G01N27/30 , G01N27/333 , G01N27/416 , G01N27/42 , G01N27/48 , G01N27/06
Abstract: 本申请涉及校正来自不同分析测量装置的两个测量值的方法和测量点。本发明涉及用于校正第一/第二分析测量装置的第一/第二被测变量的第一/第二测量值的方法，第一分析测量装置对第二被测变量并且第二分析测量装置对第一被测变量具有交叉敏感性。方法包括：提供测量点，借助于第一/第二/第三分析测量装置确定第一/第二/第三测量值，通过考虑第一/第二测量值和第一分析测量装置对第二被测变量的交叉敏感性并补偿第一测量值对第三测量值的依赖性，借助于控制单元计算校正后的第一测量值，通过考虑第一/第二测量值和第二分析测量
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公开(公告)号：CN112305034B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202010721166.8
申请日：2020-07-24
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC: G01N27/30 , G01N27/333 , G01N27/416 , G01N27/42 , G01N27/48 , G01N27/06
Abstract: 本发明涉及校准分析测量设备的方法和校准分析测量设备的测量点。方法包括：关闭出口阀使得过程介质无法通过出口阀排放到排放口；关闭入口阀使得额外的过程介质无法从第一入口进给到测量点中并且预定量的过程介质位于测量点中；将预定量的校准介质从第二入口通过入口阀进给到测量点中；通过泵来循环校准介质使得产生流动回路并且校准介质流向分析测量设备。通过泵来设定校准介质的预定流速；通过分析测量设备来检测第一测量值用于校准；至少一次重复：将预定量的校准介质进给到测量点中、通过泵循环校准介质、检测另一测量值以校准分析测量设备；评估第一测量值和后续测量值，并基于第一测量值和后续测量值的评估来执行对分析测量设备的校准。
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公开(公告)号：CN112305251A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN202010709818.6
申请日：2020-07-22
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司
IPC: G01N37/00 , G01N35/00 , G01N27/26 , G01N33/18 , G01N27/42 , G01N27/28 , G01N33/00 , G01N27/06 , G01N27/00
Abstract: 本申请涉及用于校准分析测量设备的方法以及测量点。本发明涉及一种用于在测量点(1)中校准分析测量设备(2)的方法，其中所述方法包括至少以下步骤：关闭入口阀(10)，以使得没有过程介质被从第一入口(3)馈送入测量点(1)；通过出口阀(11)清空过程介质的测量点(1)；关闭出口阀(11)；从第二入口(5)通过入口阀(10)将预确定体积的校准介质馈送入测量点(1)；通过泵(14)使校准介质循环，以使得流动回路(S)被生成，并且校准介质流动冲击分析测量设备(2)，其中通过泵(14)调整校准介质的预确定流速；校准分析测量设备(2)。
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