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1.

发明授权
太阳辐射模拟器辐照强度测量扫描器失效

公开(公告)号：CN101806618B

公开(公告)日：2012-02-29

申请号：CN200910009089.7

申请日：2009-02-17

Applicant: 总装备部工程设计研究总院

Inventor： 刘松 , 周旭 , 卢连成 , 肖力田 , 宋道宏 , 诸方舟 , 刘晗 , 胡振鑫

IPC: G01J1/04

Abstract: 本发明公开了一种太阳辐射模拟器辐照强度测量扫描器，包括若干段的纵向轨道和通过摩擦轮在纵向轨道上纵向移动的与纵向轨道垂直的横向支架，辐照强度测量仪随着横向支架沿纵向轨道移动而纵向移动，随着测量仪平台沿横向支架移动而实现横向移动。本发明太阳辐射模拟器辐照强度测量扫描器可成功组合应用在太阳辐射模拟器的有效区域光强分布测量中，对有效区域中的光强分布进行了平面扫描测量。扫描的横向和纵向的分辨率为10mm。

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