公开(公告)号：CN108627457A

公开(公告)日：2018-10-09

申请号：CN201810211822.2

申请日：2018-03-15

Applicant: 德律科技股份有限公司

Inventor： 温光溥 ,  吴文明 ,  黄俊彦

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/892 ,  B07C5/342

CPC classification number: G06T7/0008 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/956 ,  G01N2021/845 ,  G01N2021/95638 ,  G01N2201/0484 ,  G06T2207/30141 ,  G06T2207/30148 ,  H04N5/247

Abstract: 一种自动光学检测系统及其操作方法。自动光学检测系统包括第一自动光学检测机器与第二自动光学检测机器，第二自动光学检测机器电性连接至第一自动光学检测机器。第一自动光学检测机器使用第一解析度检测待测物，以检测待测物是否存在可能有缺陷的区域。第二自动光学检测机器使用比第一自动光学检测机器的第一解析度高的第二解析度，仅在可能有缺陷的区域内进行检查，以检测待测物中可能有缺陷的区域内是否有任一缺陷。综上所述，自动光学检测系统兼备“零脱逃”和“零误判”这两个标准，消除了人工验证的成本和不确定性。

公开(公告)号：CN108627457B

公开(公告)日：2021-06-11

申请号：CN201810211822.2

申请日：2018-03-15

Applicant: 德律科技股份有限公司

Inventor： 温光溥 ,  吴文明 ,  黄俊彦

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/892 ,  B07C5/342

Abstract: 一种自动光学检测系统及其操作方法。自动光学检测系统包括第一自动光学检测机器与第二自动光学检测机器，第二自动光学检测机器电性连接至第一自动光学检测机器。第一自动光学检测机器使用第一解析度检测待测物，以检测待测物是否存在可能有缺陷的区域。第二自动光学检测机器使用比第一自动光学检测机器的第一解析度高的第二解析度，仅在可能有缺陷的区域内进行检查，以检测待测物中可能有缺陷的区域内是否有任一缺陷。综上所述，自动光学检测系统兼备“零脱逃”和“零误判”这两个标准，消除了人工验证的成本和不确定性。