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公开(公告)号:CN109427733B
公开(公告)日:2024-01-23
申请号:CN201810913625.5
申请日:2018-08-13
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
Abstract: 在所描述的示例中,集成电路(图3A中的305)包括:半导体基板(图3A中的308),该半导体基板具有第一表面和相对的第二表面;至少一个电介质层(图3A中的314),该至少一个电介质层位于半导体基板的第一表面之上;至少一个电感线圈(图3A中的310),该至少一个电感线圈位于至少一个电介质层中,具有由线圈空间隔开的多个线圈绕组,至少一个电感线圈位于定向在平行于半导体基板的第一表面的第一方向上的平面中,至少一个电感线圈通过至少一个电介质层的一部分与半导体基板电隔离;以及沟槽(322),该沟槽(322)在相对于第一方向成一定角度的第二方向上延伸到半导体基板,沟槽(322)位于电感线圈之下并且填充有电介质替代材料。
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公开(公告)号:CN102771091B
公开(公告)日:2016-05-11
申请号:CN201080064639.6
申请日:2010-12-13
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
CPC classification number: G06F1/266
Abstract: 公开了一种检测用电装置(12)从以太网供电(PoE)系统的链路(14)断开的检测系统(10)。所述检测系统(10)能够包括闭环控制(16),所述闭环控制(16)配置为向导电路径提供预定的测试电流(ITEST),所述导电路径包括至少一部分所述链路(14),所述用电装置能够通过所述链路(14)连接以用于接收电力。检测器(20)配置为监控所述闭环控制,如果所述闭环控制在期望的工作参数之外,则所述环检测器(20)提供断开信号,因此指示所述用电装置已从所述链路(14)断开。
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公开(公告)号:CN109427733A
公开(公告)日:2019-03-05
申请号:CN201810913625.5
申请日:2018-08-13
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
Abstract: 在所描述的示例中,集成电路(图3A中的305)包括:半导体基板(图3A中的308),该半导体基板具有第一表面和相对的第二表面;至少一个电介质层(图3A中的314),该至少一个电介质层位于半导体基板的第一表面之上;至少一个电感线圈(图3A中的310),该至少一个电感线圈位于至少一个电介质层中,具有由线圈空间隔开的多个线圈绕组,至少一个电感线圈位于定向在平行于半导体基板的第一表面的第一方向上的平面中,至少一个电感线圈通过至少一个电介质层的一部分与半导体基板电隔离;以及沟槽(322),该沟槽(322)在相对于第一方向成一定角度的第二方向上延伸到半导体基板,沟槽(322)位于电感线圈之下并且填充有电介质替代材料。
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公开(公告)号:CN102771091A
公开(公告)日:2012-11-07
申请号:CN201080064639.6
申请日:2010-12-13
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
CPC classification number: G06F1/266
Abstract: 公开了一种检测用电装置(12)从以太网供电(PoE)系统的链路(14)断开的检测系统(10)。所述检测系统(10)能够包括闭环控制(16),所述闭环控制(16)配置为向导电路径提供预定的测试电流(ITEST),所述导电路径包括至少一部分所述链路(14),所述用电装置能够通过所述链路(14)连接以用于接收电力。检测器(20)配置为监控所述闭环控制,如果所述闭环控制在期望的工作参数之外,则所述环检测器(20)提供断开信号,因此指示所述用电装置已从所述链路(14)断开。
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