对感应电荷泄漏的易感性的标识
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114144835A

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN202080052910.8

    申请日:2020-06-09

    Abstract: 本公开的方面涉及用于标识对感应电荷泄漏的易感性的技术。在一些示例中,包括高速缓存线冲刷指令的易感性测试序列被用来重复地激活存储器单元的行。易感性测试序列在与被激活的行物理地邻接的行内引起感应电荷泄漏,以使得物理邻接图可以被生成。在其他一些示例中,物理邻接图被用来标识针对目标行的一组邻接行。易感性测试序列被用来重复地激活该一组邻接行,在此之后,目标行的内容被分析以确定目标行的任何位是否由于感应电荷泄漏而被翻转。如果未标识出被翻转的位,则生成存储器单元对感应电荷泄漏不易感的指示。

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