公开(公告)号：CN101839961A

公开(公告)日：2010-09-22

申请号：CN200910128881.4

申请日：2009-03-19

Applicant: 广达电脑股份有限公司

Inventor： 聂国强 ,  沈里正 ,  徐锦莲 ,  谢宗莹

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/18

Abstract: 本发明提出一种测试系统以及测试方法。该测试系统包含测试平台以及取放装置。测试平台包含金属底板、测试环境电路板、测试座以及金属壁。测试环境电路板设置于金属底板上，测试座设置于测试环境电路板上，而金属壁设置于金属底板上且环绕测试座。取放装置可移动地设置于测试平台上方，并用以将待测单元放置于测试座上。取放装置的金属盖板对应测试平台的金属壁。当取放装置将待测单元放置于测试座上时，金属盖板配合测试平台的金属壁与金属底板形成隔离空间，以隔离该待测单元。

公开(公告)号：CN101839961B

公开(公告)日：2012-06-27

申请号：CN200910128881.4

申请日：2009-03-19

Applicant: 广达电脑股份有限公司

Inventor： 聂国强 ,  沈里正 ,  徐锦莲 ,  谢宗莹

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/18

Abstract: 本发明提出一种测试系统以及测试方法。该测试系统包含测试平台以及取放装置。测试平台包含金属底板、测试环境电路板、测试座以及金属壁。测试环境电路板设置于金属底板上，测试座设置于测试环境电路板上，而金属壁设置于金属底板上且环绕测试座。取放装置可移动地设置于测试平台上方，并用以将待测单元放置于测试座上。取放装置的金属盖板对应测试平台的金属壁。当取放装置将待测单元放置于测试座上时，金属盖板配合测试平台的金属壁与金属底板形成隔离空间，以隔离该待测单元。