一种磁影响测试装置及方法

    公开(公告)号:CN110967587A

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201911355867.8

    申请日:2019-12-25

    Inventor: 许策 李红倩

    Abstract: 本发明公开了一种磁影响测试装置及方法,包括:测试设备试验台、受试设备试验台、平行滑轨、受试设备、拉抽式线缆放置卡槽、磁强计及激光测距仪;处于同一东西轴线上的测试设备试验台、受试设备试验台可移动地固定于平行滑轨上;受试设备试验台的东西轴线上设置拉抽式线缆放置卡槽、受试设备及线缆,受试设备与线缆连接,线缆固定在拉抽式线缆放置卡槽上;磁强计,安装在测试设备试验台上,与受试设备在同一轴线上,用于测量受试设备放置前后的磁感应强度;激光测距仪,设置在磁强计的位置,用于在磁强计测得受试设备放置后的预设磁感应强度时,测量与受试设备之间的距离,能有效提高测试结果的准确性。

    一种磁影响测试装置及方法

    公开(公告)号:CN110967587B

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN201911355867.8

    申请日:2019-12-25

    Inventor: 许策 李红倩

    Abstract: 本发明公开了一种磁影响测试装置及方法,包括:测试设备试验台、受试设备试验台、平行滑轨、受试设备、拉抽式线缆放置卡槽、磁强计及激光测距仪;处于同一东西轴线上的测试设备试验台、受试设备试验台可移动地固定于平行滑轨上;受试设备试验台的东西轴线上设置拉抽式线缆放置卡槽、受试设备及线缆,受试设备与线缆连接,线缆固定在拉抽式线缆放置卡槽上;磁强计,安装在测试设备试验台上,与受试设备在同一轴线上,用于测量受试设备放置前后的磁感应强度;激光测距仪,设置在磁强计的位置,用于在磁强计测得受试设备放置后的预设磁感应强度时,测量与受试设备之间的距离,能有效提高测试结果的准确性。

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