公开(公告)号：CN117741267A

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202311779549.0

申请日：2023-12-20

Applicant: 广电计量检测(武汉)有限公司 ,  广州广电计量检测(上海)有限公司 ,  广电计量检测(无锡)有限公司

Inventor： 阮鹏 ,  罗辉生 ,  蔡文亮 ,  吴磊

IPC: G01R29/08 ,  G01R23/16 ,  G01R1/18 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明涉及近场扫描技术和电磁辐射分析领域，并且更具体地，涉及一种低成本电磁辐射分析装置和方法，本发明将近场扫描技术这一低成本高效率的方法与对应的EMC认证测试这一高昂成本效率低的方法结合起来，加以优化完善，对于产品远场测试未通过的产品可以通过近场探头确定干扰源和干扰路径，然后可视化的呈现场强分布，通过将远场测试数据与近场测试数据进行大量的对比与拟合，得出两者的近似关系，在无电波暗室情况下，快速的对电路板的干扰源进行定位和测量，对电路板的干扰源采取有效措施，在对产品进行改进后在电波暗室进行正式测试，从而节省成本并提高研发效率。