光纤色散测试仪的校准装置及设备

    公开(公告)号:CN107271146B

    公开(公告)日:2022-02-01

    申请号:CN201710412389.4

    申请日:2017-06-02

    Abstract: 本发明公开了一种光纤色散测试仪的校准装置及设备,所述校准装置包括具有第一长度的光纤光栅,所述具有第一长度的光纤光栅为与具有第二长度的标准光纤的色散特性相同的光纤光栅;其中,所述第一长度不大于20cm,所述第二长度不小于10km。采用本发明实施例,无需采用大于10km的标准光纤进行计量、减小了体积、减小了重量、降低了成本以及便于携带、使用和批量生产,提高了用户体验。

    振动探伤仪性能参数获得方法及装置

    公开(公告)号:CN109613117A

    公开(公告)日:2019-04-12

    申请号:CN201811558598.0

    申请日:2018-12-19

    Inventor: 赵莹 龙阳

    Abstract: 本发明涉及一种振动探伤仪性能参数获得方法及装置,通过被校振动探伤仪分别测量各结构单元多次,获得各频谱密度,以根据各频谱密度获取各峰值频率,同时结合各结构单元的一阶固有频率,根据各峰值频率与对应结构单元的一阶固有频率获得被校振动探伤仪的性能参数。基于此,通过测量各结构单元,获取到可用于衡量被校振动探伤仪性能的性能参数,以便于测试人员判断被校振动探伤仪是否能正常工作,直观了解被校振动探伤仪的测试性能。

    一种OTDR性能评估装置及方法

    公开(公告)号:CN109004973A

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201810725343.2

    申请日:2018-07-04

    Abstract: 本发明的OTDR性能评估装置,包括OTDR和盘装标准光纤,标准光纤具有光纤连接头,OTDR和标准光纤通过标准光纤的光纤连接头相连。本发明的OTDR性能评估方法,利用OTDR和标准光纤进行光纤损耗特性测试;将OTDR和标准光纤一端的光纤连接头相连,标准光纤另一端的光纤连接头与光纤发射镜相连,进行光纤长度测试;将OTDR和标准光纤一端的光纤连接头相连,标准光纤另一端的光纤连接头与光纤光阱相连,进行动态范围、盲区测试。本发明的OTDR性能评估装置及方法能够实现对OTDR的长度、损耗等测试功能以及动态范围、盲区等自身性能进行检测的功能,在不影响测试精度的前提下使整个装置更小且更轻便,功能覆盖面更广。

    亮度计校准装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106525228B

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201611186076.3

    申请日:2016-12-19

    Abstract: 本发明涉及一种亮度计校准装置,包括刻度盘、支撑刻度盘的支撑架和两个水平仪连接件,刻度盘包括本体,本体上设有至少两条夹角为45°的刻度线,两个水平仪连接件设置于支撑架,且可相对支撑架移动,以调节两个水平仪连接件分别对准两个夹角为45°的刻度线。通过上述亮度计校准装置,可将两个水平仪分别连接于两个水平仪连接件,并通过调节水平仪连接件的在支撑架的位置,可使两个水平仪连接件分别对准两个夹角为45°的刻度线,然后将两个水平仪发出的光分别对准标准灯和待检测亮度计,即可准确地控制标准灯于被检测亮度计成45°角,同时通过水平仪的水平线功能,使标准灯和待检测亮度计保持在同一水平,这样可保证亮度计校准精度较高。

    光纤色散测试仪的校准装置及设备

    公开(公告)号:CN107271146A

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201710412389.4

    申请日:2017-06-02

    CPC classification number: G01M11/30

    Abstract: 本发明公开了一种光纤色散测试仪的校准装置及设备,所述校准装置包括具有第一长度的光纤光栅,所述具有第一长度的光纤光栅为与具有第二长度的标准光纤的色散特性相同的光纤光栅;其中,所述第一长度不大于20cm,所述第二长度不小于10km。采用本发明实施例,无需采用大于10km的标准光纤进行计量、减小了体积、减小了重量、降低了成本以及便于携带、使用和批量生产,提高了用户体验。

    电导率仪检验装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105403850A

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201510957846.9

    申请日:2015-12-17

    CPC classification number: G01R35/007

    Abstract: 本发明公开了一种电导率仪检验装置,包括标准电导率仪和测量箱体,所述测量箱体内设有容纳检验液的第一腔体和围绕所述第一腔体外周设置的第二腔体,所述第一腔体和所述第二腔体设有共用壁,所述第二腔体内容置有恒温介质,所述标准电导率仪设有第一探头,待检验电导率仪设有第二探头,所述第一探头和所述第二探头均伸入所述检验液。本发明能够实现电导率仪不同测量范围的检验,增加了检验的准确性,保证电导率仪的测量精度。

    振动探伤仪性能参数获得方法及装置

    公开(公告)号:CN109613117B

    公开(公告)日:2021-11-09

    申请号:CN201811558598.0

    申请日:2018-12-19

    Inventor: 赵莹 龙阳

    Abstract: 本发明涉及一种振动探伤仪性能参数获得方法及装置,通过被校振动探伤仪分别测量各结构单元多次,获得各频谱密度,以根据各频谱密度获取各峰值频率,同时结合各结构单元的一阶固有频率,根据各峰值频率与对应结构单元的一阶固有频率获得被校振动探伤仪的性能参数。基于此,通过测量各结构单元,获取到可用于衡量被校振动探伤仪性能的性能参数,以便于测试人员判断被校振动探伤仪是否能正常工作,直观了解被校振动探伤仪的测试性能。

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