一种电能表测试方法及装置

    公开(公告)号:CN112731264B

    公开(公告)日:2022-12-13

    申请号:CN202011603692.0

    申请日:2020-12-29

    Abstract: 本发明提供一种电能表测试方法,包括以下步骤:S1:启动测试,并记录启动时的MCU有功总电量底度;S2:实时获取待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量;S3:判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第一次跳变;若是,则执行步骤S4;若否,则返回步骤S2;S4:计算出启动时刻的待测电能表有功总电量底度;S5:实时获取第一次跳变后的待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量底度;S6:判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第二次跳变;若是,则执行步骤S7;若否,则执行返回步骤S5;S7:计算待测电能表的误差。本发明还提供一种电能表测试装置。本发明提供一种电能表测试方法及装置,解决了目前电能表测试的过程耗时长的问题。

    一种电能表测试方法及装置

    公开(公告)号:CN112731264A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202011603692.0

    申请日:2020-12-29

    Abstract: 本发明提供一种电能表测试方法,包括以下步骤:S1:启动测试,并记录启动时的MCU有功总电量底度;S2:实时获取待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量;S3:判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第一次跳变;若是,则执行步骤S4;若否,则返回步骤S2;S4:计算出启动时刻的待测电能表有功总电量底度;S5:实时获取第一次跳变后的待测电能表有功总电量底度和MCU有功总电量底度;S6:判断当前的待测电能表有功总电量底度是否发生第二次跳变;若是,则执行步骤S7;若否,则执行返回步骤S5;S7:计算待测电能表的误差。本发明还提供一种电能表测试装置。本发明提供一种电能表测试方法及装置,解决了目前电能表测试的过程耗时长的问题。

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