一种能定位电晕放电的无人机载阵列式传感器

    公开(公告)号:CN110082657A

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201910463470.4

    申请日:2019-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种能定位电晕放电的无人机载阵列式传感器,包括顶部为球面的基座、安装在基座上的摄像头和安装在基座上多个等间隔排列的天线线圈;基座上开设有若干个均匀分布的接口,天线线圈的一端安装有与接口相配合的接头,基座上安装有信号放大器,基座上还安装有可依次电性连接天线线圈和信号放大器的切换开关总成,通过分析计算各个方位上的天线线圈所接收到的强度不同的信号判断出电晕放电的位置。本发明装置结构简单,降低了制造成本,减小了装置整体的体积和重量,便于与无人机配合使用;设置的接口和接口便于根据实际使用的需求来改变天线线圈的数量,从而增加电晕放电位置检测的精度。

    一种用于无人机搭载天线检测装置的外壳

    公开(公告)号:CN110058061B

    公开(公告)日:2020-10-02

    申请号:CN201910464434.X

    申请日:2019-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种用于无人机搭载天线检测装置的外壳,包括壳体和安装在壳体两侧的安装支架,安装支架远离壳体的末端安装有与安装支架相配合的锁扣,安装支架和锁扣上设有与无人机支架轮廓相配合的固定槽,壳体前端的开口处设有若干个天线限位卡扣,壳体内且位于天线限位卡扣的后方安装有天线限位挡板,天线限位卡扣与天线限位挡板之间设有一侧敞口的天线卡槽,且壳体的顶部安装有可将天线卡槽一侧敞口覆盖的外壳盖板。设置的天线卡槽方便了天线的拆装,且壳体通过安装支架和锁扣固定安装在无人机支架上,保证在无人机运行过程中不会发生外壳脱落现象,便于无人机搭载天线检测装置。

    一种基于卡槽的交叉互联箱
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110401160A

    公开(公告)日:2019-11-01

    申请号:CN201810375471.9

    申请日:2018-04-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于卡槽的交叉互联箱,包括:箱体、三相和接地线管、接线杆、三相和公用螺栓、绝缘板和互联杆。外部线缆可通过线管进入箱体背部,将A相线的尾端通过A相护层保护器与设在第一绝缘板的B相螺栓连接,第一绝缘板的B相螺栓与B相线头端连接;将B相线的尾端通过B相护层保护器与设在第一绝缘板的C相螺栓连接,第一绝缘板的C相螺栓与C相线头端连接;将C相线的尾端通过C相护层保护器与设在第一绝缘板的A相螺栓连接,第一绝缘板的A相螺栓与A相线头端连接。本发明通过在交叉互联箱的第一绝缘板上设置带有不同形状凹槽的固定块,使每一相对应的接点可轻易被操作人员识别出来,防止误操作,极大地提高了安全效率。

    一种用于无人机搭载天线检测装置的外壳

    公开(公告)号:CN110058061A

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201910464434.X

    申请日:2019-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种用于无人机搭载天线检测装置的外壳,包括壳体和安装在壳体两侧的安装支架,安装支架远离壳体的末端安装有与安装支架相配合的锁扣,安装支架和锁扣上设有与无人机支架轮廓相配合的固定槽,壳体前端的开口处设有若干个天线限位卡扣,壳体内且位于天线限位卡扣的后方安装有天线限位挡板,天线限位卡扣与天线限位挡板之间设有一侧敞口的天线卡槽,且壳体的顶部安装有可将天线卡槽一侧敞口覆盖的外壳盖板。设置的天线卡槽方便了天线的拆装,且壳体通过安装支架和锁扣固定安装在无人机支架上,保证在无人机运行过程中不会发生外壳脱落现象,便于无人机搭载天线检测装置。

    一种基于色差聚类分析的复合绝缘子伞裙老化判别方法

    公开(公告)号:CN110095673A

    公开(公告)日:2019-08-06

    申请号:CN201910492071.0

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 本发明公开了一种基于色差聚类分析的复合绝缘子伞裙老化判别方法,包括如下步骤:步骤100、从硅橡胶的伞裙上切取所需尺寸的试样,所述试样包括外层和内层;步骤200、采用无水乙醇清洗试样;步骤300、采用色差仪分别对试样的外层和内层的材料进行测量,分别获取外层和内层的L值,a值和b值;步骤400、试样外层色差数据进行聚类分析;步骤500、将试样内层色差进行聚类分析,选取内层试样色差作为未老化样品,记为类聚点,其他试样到所述类聚点的距离作为绝缘子老化判别依据。本发明能够考虑未老化绝缘子伞裙材料的配方变化,在绝缘子老化程度判定领域更具有普适性。

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