一种基于磁光克尔效应的低温连续扫描装置及方法

    公开(公告)号:CN118730922A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410758275.5

    申请日:2024-06-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于磁光克尔效应的低温连续扫描装置及方法,涉及扫描装置技术领域;而本发明包括低温连续扫描装置本体,低温连续扫描装置本体的下端内部开设有配合使用的安装内腔与连接插槽,且安装内腔与连接插槽内设有收纳机构,收纳机构上设有配合使用的升降机构,且升降机构上可拆卸设有显示屏本体;通过收纳机构的设置使用,为收纳支架的便捷移动提供了便利,从而为显示屏本体的便捷移动提供了便利,进而能够在低温连续扫描装置本体闲置时将显示屏本体进行收纳封存,从而能够避免显示屏本体在闲置期间出现积灰或者被外界物体撞击损坏的现象,进而保障了低温连续扫描装置本体的正常使用。

    一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置

    公开(公告)号:CN118442392A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410726371.1

    申请日:2024-06-06

    Abstract: 本发明公开了一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,涉及磁光克尔效应实验技术领域;而本发明包括两个导轨本体,导轨本体的一端开设有三个安装沉槽,且安装沉槽内可拆卸设有配合使用的水准仪本体,安装沉槽的内壁上开设有与水准仪本体配合使用的操作沉槽,且操作沉槽呈对称结构,导轨本体远离水准仪本体的一端开设有配合使用的弧形凹槽,导轨本体靠近水准仪本体的一端设有配合使用的限位机构;通过对接机构的设置使用,能够将两个导轨本体进行便捷拼接,且便于后期进行分离,从而实现了导轨本体的单独使用以及组合使用,进而有效提高了调节装置的实用性,且在组合使用时能够有效简化调平步骤,从而有效提高了调节装置的使用便捷性。

    一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台

    公开(公告)号:CN118226346A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410394720.4

    申请日:2024-04-02

    Abstract: 本发明公开了一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台,涉及高压物理实验技术和材料物性测量技术领域,包括上料机构,所述上料机构一端设置有二号安装架,所述二号安装架上部固定连接有测试机构,所述测试机构一侧设置有加压机构。本发明通过转动一号摇把带动一号丝杆进行转动,对一号连接块的位置进行调节,从而对一号连接板上部的数据采集器和测量仪器的左右位置进行调节,同时,通过转动二号摇把带动二号丝杆进行转动,对二号连接块的位置进行调节,从而对二号连接板及其上部的数据采集器和测量仪器进行前后位置进行移动,便于对数据采集器和测量仪器的位置进行充分的调节,从而对待检测样品的测量数据进行充分的测量。

    一种紧微区磁光克尔测量装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118625225A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410696469.7

    申请日:2024-05-31

    Abstract: 本发明公开了一种紧微区磁光克尔测量装置,涉及物理光学技术领域;而本发明包括箱体,箱体包括调节机构,调节机构包括方形杆,方形杆顶端安装有限位机构,限位机构包括放置台,箱体内壁顶端安装有检测机构,检测机构包括检测组件,检测组件位于放置台上方,箱体外侧安装有清理机构;本发明中通过设置限位机构,可以将装有样品的盒子进行夹持固定,从而方便后续进行检测,接着通过调节机构可以对放置台进行角度调节,从而可以实现精准的样品位置控制,有助于提升实验操作的便捷性和灵活性,接着通过检测机构,以实现对样品位置的精准控制,适应不同尺寸和形状的样品,提高实验的灵活性和适用性。

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