试样分析装置以及试样分析方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119757771A

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411355177.3

    申请日:2024-09-27

    Abstract: 本发明涉及试样分析装置以及试样分析方法,在分析结果产生异常的情况下,能够高效地掌握异常的原因。作为实施方式的一例的试样分析装置(1)具备:拍摄试纸(100)的拍摄部(20)、对试纸图像(300)进行解析的控制部(50)、显示试纸图像(300)的解析结果的显示部(30)、以及用于输入规定的指示的输入部(30)。控制部(50)使显示部(30)显示通过输入部(30)选择的多个试纸图像(300)。

Patent Agency Ranking