公开(公告)号：CN112240863B

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202010693205.8

申请日：2020-07-17

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 鹤冈泰明 ,  辻智悠 ,  立谷洋大 ,  木西基 ,  益田祐次

IPC: G01N15/14 ,  G01N15/1404 ,  G01N15/1429

Abstract: 为了轻松进行用于检测来自试样的荧光的装置的调整，本发明提供了一种测定装置（100），其具备：流动室（10），供含粒子的试样流动；光源（20），向在流动室（10）流动的试样照射光；荧光检测器（30），检测从被光源（20）照射了光的试样产生的荧光；控制部（40），使含荧光染料的阳性对照试样流向流动室（10），通过荧光检测器（30）测定从被光源（20）照射了光的阳性对照试样产生的荧光，比较获得的测定值与标准值，根据比较结果调整荧光检测器（30）的检测灵敏度。

公开(公告)号：CN110967512B

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN201910935619.4

申请日：2019-09-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 立谷洋大 ,  木西基 ,  辻智悠 ,  鹤冈泰明 ,  米田圣

IPC: G01N35/00

Abstract: 本发明公开了一种测定装置及精度管理的方法。通过一种测定装置解决精度管理的技术问题，该测定装置具备：测定用于进行精度管理的管理试样的测定部、显示部、在所述显示部显示用于设定在所述精度管理中使用的评价基准的输入界面的处理部，所述处理部基于所述管理试样的测定结果及所述评价基准在所述显示部显示检查项目的精度管理结果。

公开(公告)号：CN110967512A

公开(公告)日：2020-04-07

申请号：CN201910935619.4

申请日：2019-09-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 立谷洋大 ,  木西基 ,  辻智悠 ,  鹤冈泰明 ,  米田圣

IPC: G01N35/00

Abstract: 本发明公开了一种测定装置及精度管理的方法。通过一种测定装置解决精度管理的技术问题，该测定装置具备：测定用于进行精度管理的管理试样的测定部、显示部、在所述显示部显示用于设定在所述精度管理中使用的评价基准的输入界面的处理部，所述处理部基于所述管理试样的测定结果及所述评价基准在所述显示部显示检查项目的精度管理结果。

公开(公告)号：CN112240863A

公开(公告)日：2021-01-19

申请号：CN202010693205.8

申请日：2020-07-17

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 鹤冈泰明 ,  辻智悠 ,  立谷洋大 ,  木西基 ,  益田祐次

IPC: G01N15/14

Abstract: 为了轻松进行用于检测来自试样的荧光的装置的调整，本发明提供了一种测定装置（100），其具备：流动室（10），供含粒子的试样流动；光源（20），向在流动室（10）流动的试样照射光；荧光检测器（30），检测从被光源（20）照射了光的试样产生的荧光；控制部（40），使含荧光染料的阳性对照试样流向流动室（10），通过荧光检测器（30）测定从被光源（20）照射了光的阳性对照试样产生的荧光，比较获得的测定值与标准值，根据比较结果调整荧光检测器（30）的检测灵敏度。