样本分析装置、样本分析系统及其的管理方法

    公开(公告)号:CN104483469A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201410730642.7

    申请日:2013-03-26

    CPC classification number: G01N35/00712 G01N35/00603

    Abstract: 本发明提供一种样本分析系统,包括:第一样本分析装置,所述第一样本分析装置具有用于测定样本的第一测定部件和用于控制所述第一测定部件的第一控制部件;第二样本分析装置,所述第二样本分析装置具有用于测定样本的第二测定部件和用于控制所述第二测定部件的第二控制部件;管理装置,所述管理装置具有能够与所述第一控制部件和所述第二控制部件分别通信的第三控制部件;其中,所述第三控制部件在所述第一样本分析装置满足预定的条件时发送用于启动所述第二样本分析装置的启动信号,所述第二控制部件在收到所述启动信号后启动所述第二样本分析装置。

    样本分析装置、样本分析系统及其的管理方法

    公开(公告)号:CN104483469B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201410730642.7

    申请日:2013-03-26

    CPC classification number: G01N35/00712 G01N35/00603

    Abstract: 本发明提供一种样本分析系统,包括:第一样本分析装置,所述第一样本分析装置具有用于测定样本的第一测定部件和用于控制所述第一测定部件的第一控制部件;第二样本分析装置,所述第二样本分析装置具有用于测定样本的第二测定部件和用于控制所述第二测定部件的第二控制部件;管理装置,所述管理装置具有能够与所述第一控制部件和所述第二控制部件分别通信的第三控制部件;其中,所述第三控制部件在所述第一样本分析装置满足预定的条件时发送用于启动所述第二样本分析装置的启动信号,所述第二控制部件在收到所述启动信号后启动所述第二样本分析装置。

    样本分析装置、样本分析系统及其的管理方法

    公开(公告)号:CN103364539B

    公开(公告)日:2015-01-07

    申请号:CN201310099334.4

    申请日:2013-03-26

    CPC classification number: G01N35/00712 G01N35/00603

    Abstract: 本发明提供一种样本分析系统,其包括:具有用于测定样本的第一测定部件和用于控制所述第一测定部件的第一控制部件的第一样本分析装置;以及具有用于测定样本的第二测定部件和用于控制所述第二测定部件的第二控制部件的第二样本分析装置;其中所述第一控制部件在所述第一样本分析装置满足预定的条件时发送用于启动所述第二样本分析装置的启动信号,所述第二控制部件收到所述启动信号后启动所述第二样本分析装置。本发明还提供一种样本分析系统管理方法。

    样本分析装置、样本分析系统及其的管理方法

    公开(公告)号:CN103364539A

    公开(公告)日:2013-10-23

    申请号:CN201310099334.4

    申请日:2013-03-26

    CPC classification number: G01N35/00712 G01N35/00603

    Abstract: 本发明提供一种样本分析系统,其包括:具有用于测定样本的第一测定部件和用于控制所述第一测定部件的第一控制部件的第一样本分析装置;以及具有用于测定样本的第二测定部件和用于控制所述第二测定部件的第二控制部件的第二样本分析装置;其中所述第一控制部件在所述第一样本分析装置满足预定的条件时发送用于启动所述第二样本分析装置的启动信号,所述第二控制部件收到所述启动信号后启动所述第二样本分析装置。本发明还提供一种样本分析系统管理方法。

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