公开(公告)号：CN102539741A

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN201110333157.2

申请日：2011-10-28

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 堀信康 ,  桐村浩哉

IPC: G01N33/543 ,  G01N27/327

CPC classification number: G01N27/305 ,  G01N33/5438

Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够灵敏地检测出检测物和受测物的检测物的检测装置、电极基板、工作电极、检查芯片、检测物的检测方法以及受测物的检测方法；为达到上述目的，在工作电极上设置反射部件(反射层)，该反射部件将光源照射出的、且透过了工作电极主体的激励光反射到工作电极主体上的检测物上。

公开(公告)号：CN109283327B

公开(公告)日：2023-05-05

申请号：CN201810786963.7

申请日：2018-07-18

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 赤间健司 ,  桐村浩哉

IPC: G01N33/533 ,  G01N33/535 ,  G01N33/543 ,  G01N33/558

Abstract: 本发明提供更简便地并且在进一步降低非特异性信号的状态下检测受试物质的方法。本发明使受试物质，有对所述受试物质的结合性并且固定在基板上的捕获体1、和有对所述受试物质的结合性并且含标记的捕获体2在液中接触，将所述捕获体2配置在基板上之后，重复从含所述捕获体2的物质的基板上的解离和向基板上的接触，在特定的工序和特定的工序中，对基板上的标记来源信号配置图案进行比较，将基本上同位置的信号检测为显示受试物质的信号。

公开(公告)号：CN105567673B

公开(公告)日：2018-09-04

申请号：CN201510726154.3

申请日：2015-10-30

Applicant: 希森美康株式会社 ,  国立大学法人名古屋大学 ,  丸山厚

Inventor： 铃木誓吾 ,  桐村浩哉 ,  浅沼浩之

IPC: C12N15/10

CPC classification number: C12Q1/6853 ,  C12Q1/6844 ,  C12Q1/6848 ,  C12Q2523/305 ,  C12Q2523/319 ,  C12Q2531/119

Abstract: 本发明涉及扩增核酸的方法。更具体而言，本发明涉及使用光应答性核酸，在基本上等温的条件下光照射依赖性地扩增核酸的方法。

公开(公告)号：CN105548307B

公开(公告)日：2018-08-03

申请号：CN201510711156.5

申请日：2015-10-28

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 堀信康 ,  安田裕一 ,  桐村浩哉 ,  高村禅 ,  M·近江

IPC: G01N27/30

CPC classification number: G01N27/3278 ,  G01N27/3277 ,  G01N27/745 ,  G01N33/54313 ,  G01N33/5438

Abstract: 本发明提供,使用作用电极和对极,在作用电极上形成含样品中所含的被检物质和金属微粒子的复合物而检测被检物质的被检物质检测方法。在此方法中,使用有与金属微粒子引起的电流、电压或电荷的测定中使用的测定溶液相同的组成的测定溶液清洗作用电极。作为上述测定溶液,使用基于上述金属微粒子及上述作用电极的ζ电位,设定为在上述金属微粒子和上述作用电极之间不发生静电相互作用的pH或在上述金属微粒子和上述作用电极之间发生静电斥力的pH的溶液或pH是3.5以上的测定溶液。

公开(公告)号：CN105567673A

公开(公告)日：2016-05-11

申请号：CN201510726154.3

申请日：2015-10-30

Applicant: 希森美康株式会社 ,  国立大学法人名古屋大学 ,  丸山厚

Inventor： 铃木誓吾 ,  桐村浩哉 ,  浅沼浩之

IPC: C12N15/10

CPC classification number: C12Q1/6853 ,  C12Q1/6844 ,  C12Q1/6848 ,  C12Q2523/305 ,  C12Q2523/319 ,  C12Q2531/119

Abstract: 本发明涉及扩增核酸的方法。更具体而言，本发明涉及使用光应答性核酸，在基本上等温的条件下光照射依赖性地扩增核酸的方法。

公开(公告)号：CN105548307A

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201510711156.5

申请日：2015-10-28

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 堀信康 ,  安田裕一 ,  桐村浩哉 ,  高村禅 ,  M·近江

IPC: G01N27/30

CPC classification number: G01N27/3278 ,  G01N27/3277 ,  G01N27/745 ,  G01N33/54313 ,  G01N33/5438

Abstract: 本发明提供，使用作用电极和对极，在作用电极上形成含样品中所含的被检物质和金属微粒子的复合物而检测被检物质的被检物质检测方法。在此方法中，使用有与金属微粒子引起的电流、电压或电荷的测定中使用的测定溶液相同的组成的测定溶液清洗作用电极。作为上述测定溶液，使用基于上述金属微粒子及上述作用电极的ζ电位，设定为在上述金属微粒子和上述作用电极之间不发生静电相互作用的pH或在上述金属微粒子和上述作用电极之间发生静电斥力的pH的溶液或pH是3.5以上的测定溶液。

公开(公告)号：CN101726528A

公开(公告)日：2010-06-09

申请号：CN200910205180.6

申请日：2009-10-16

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 岩永茂树 ,  桐村浩哉

IPC: G01N27/416 ,  C12Q1/68 ,  C12Q1/70 ,  C12M1/34 ,  C12R1/93

Abstract: 本发明提供一种能够使被检物质的检测灵敏度提高的用于检测被检物质的检查芯片。该用于检测被检物质的检查芯片包括：具备被形成在半导体层上的金属层的半导体电极部；捕捉被检物质的被固定在上述金属层上的探针；以及具备导电层的对极部。

公开(公告)号：CN102539741B

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：CN201110333157.2

申请日：2011-10-28

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 堀信康 ,  桐村浩哉

IPC: G01N33/543 ,  G01N27/327

CPC classification number: G01N27/305 ,  G01N33/5438

Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够灵敏地检测出检测物和受测物的检测物的检测装置、电极基板、工作电极、检查芯片、检测物的检测方法以及受测物的检测方法；为达到上述目的，在工作电极上设置反射部件(反射层)，该反射部件将光源照射出的、且透过了工作电极主体的激励光反射到工作电极主体上的检测物上。

公开(公告)号：CN102539506B

公开(公告)日：2014-11-05

申请号：CN201110386111.7

申请日：2011-11-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 铃木誓吾 ,  清家圣嘉 ,  岩永茂树 ,  堀信康 ,  桐村浩哉

IPC: G01N27/416

CPC classification number: G01N33/5438

Abstract: 本发明为了提供一种能够比以往更灵敏地检测待测物的电化学检测方法，用固定在工作电极161上的捕捉物10捕捉待测物S。在工作电极161上形成包含标记结合物20和待测物S的复合物，其中该标记结合物20在溶解性载体21上有与待测物S结合的结合物22、以及含有标记物24的修饰标记物23。然后溶解溶解性载体21，将修饰标记物23诱导至工作电极161上。

公开(公告)号：CN102590304A

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN201110446124.9

申请日：2011-12-28

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 岩永茂树 ,  铃木誓吾 ,  清家圣嘉 ,  堀信康 ,  桐村浩哉

IPC: G01N27/30 ,  G01N27/327

CPC classification number: G01N33/5438 ,  G01N27/305 ,  G01N27/3277

Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够高再现性地检测受测物的电极和工作电极基板、同时提供一种通过简便的操作获取所述电极的制造方法，为达到上述目的，在光电流检测用电极中，设置含有连接分子的粘接层，该粘接层设置在半导体构成的电极主体与金属构成的金属层之间，其中该半导体用于接受所述检测物在光激励的照射下所产生的电子。