标本分析仪及其控制系统

    公开(公告)号:CN101526542B

    公开(公告)日:2013-07-03

    申请号:CN200810171520.3

    申请日:2008-10-17

    Abstract: 本发明提供一种标本分析仪,它可以不用使用者下达开始定位处理的指示,自动进行分装部件的吸移管定位,从而可以防止吸移管破损和测定结果可信度下降。具体而言,公开一种标本分析仪,其包括:分装试剂或标本的吸移管;移动上述吸移管的吸移管移动装置;配置于一定位置的定位器;及定位实施手段,即用上述吸移管移动装置移动上述吸移管至定位用部件,实施确认吸移管已配置于一定位置的定位处理。另外本发明还提供一种标本分析仪控制系统。

    标本分析仪及其控制系统

    公开(公告)号:CN101526542A

    公开(公告)日:2009-09-09

    申请号:CN200810171520.3

    申请日:2008-10-17

    Abstract: 本发明提供一种标本分析仪,它可以不用使用者下达开始定位处理的指示,自动进行分装部件的吸移管定位,从而可以防止吸移管破损和测定结果可信度下降。具体而言,公开一种标本分析仪,其包括:分装试剂或标本的吸移管;移动上述吸移管的吸移管移动装置;配置于一定位置的定位器;及定位实施手段,即用上述吸移管移动装置移动上述吸移管至定位用部件,实施确认吸移管已配置于一定位置的定位处理。另外本发明还提供一种标本分析仪控制系统。

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