知搜-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

6 records (took 0.019 seconds)

    通过检测泄漏电流及感测时间的快速软数据读取
    1.
    发明授权
    通过检测泄漏电流及感测时间的快速软数据读取 有权

    公开(公告)号：CN106997317B

    公开(公告)日：2021-05-07

    申请号：CN201610885551.X

    申请日：2016-10-10

    Applicant: 希捷科技有限公司

    Inventor： 金永毕 ,  安托万·胡维尔 ,  黄南五

    IPC: G06F11/10 ,  H03M13/11

    Abstract: 本发明描述用于基于感测时间及/或泄漏电流从存储器单元进行低时延软数据获取的系统及方法。在一个实施例中，所述系统及方法可包含将第一读取电压施加到由快闪存储器装置的处理器选定为用于读取操作的存储器单元的页的字线；将传递电压施加到与存储块的存储器单元的一或多个不同页相关联的字线；在施加所述第一读取电压之后，感测所述选定页中的存储器单元的位线是否导通；测量与感测所述选定页中的所述存储器单元的所述位线是否导通相关联的副作用；及至少部分地基于所述所测量副作用将LLR值作为软LDPC输入指派到所述存储器单元。

    改善闪存中的数据刷新的系统和方法
    3.
    发明授权
    改善闪存中的数据刷新的系统和方法 有权

    公开(公告)号：CN107391297B

    公开(公告)日：2021-12-03

    申请号：CN201710340033.4

    申请日：2017-05-15

    Applicant: 希捷科技有限公司

    Inventor： 瑞安·J·戈斯 ,  安托万·胡维尔 ,  阿拉·帕塔普蒂安

    IPC: G06F11/10

    Abstract: 本发明提供了改善闪存中的数据刷新的系统和方法。在一个实施例中，所述方法包括：识别存储系统的第一垃圾回收单元(GCU)；计算与所述第一GCU相关的奇偶校验函数；识别第一块中的数据毁损，所述第一块来自所述第一GCU中的N个块；在识别出所述第一块中的所述数据毁损之后，从所述第一GCU中移除所述第一块；以及在所述第一块未被克隆时，重新计算所述奇偶校验函数。

    用于监测存储器以便引退的系统和方法
    5.
    发明授权
    用于监测存储器以便引退的系统和方法 有权

    公开(公告)号：CN109144407B

    公开(公告)日：2021-12-21

    申请号：CN201810611569.X

    申请日：2018-06-14

    Applicant: 希捷科技有限公司

    Inventor： 达尔沙纳·H·梅赫塔 ,  安托万·胡维尔 ,  阿拉·帕塔普蒂安

    IPC: G06F3/06

    Abstract: 本主题申请涉及用于监测存储器以便引退的系统和方法。本文提出的系统和方法提供了监测区块、页面和/或条带降级。在一个实施方案中，控制器可操作为扫描存储器的第一区块以识别所述第一区块的一部分中的失效。所述控制器暂停对所述第一区块的所述失效部分的输入/输出(I/O)操作，并且测试所述第一区块的所述失效部分以确定所述失效是否为瞬时失效。测试包括为所述第一区块的所述部分加载数据，并且从所述第一区块的所述加载部分读取所述数据。如果在测试后所述失效减弱，则所述控制器还可操作为确定所述失效是瞬时失效，并恢复对所述第一区块的所述部分的I/O操作。

Patent Agency Ranking