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公开(公告)号:CN116648778A
公开(公告)日:2023-08-25
申请号:CN202180088117.8
申请日:2021-01-07
Applicant: 富士通株式会社
IPC: H01L21/338
Abstract: 半导体装置包括基板、配置在基板上的栅电极、源电极及漏电极,以相对于基板的上表面垂直延伸的方式在基板的上表面2维排列的非导电性的多个纳米线、在多个纳米线的上端以与基板之间具有空隙的方式配置并由多个纳米线支撑的电极焊盘以及将电极焊盘与栅电极连接的引出电极。
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公开(公告)号:CN115428166A
公开(公告)日:2022-12-02
申请号:CN202080099700.4
申请日:2020-04-15
Applicant: 富士通株式会社
IPC: H01L29/06 , H01L21/329 , H01L29/88 , H01L29/861 , H01L29/868
Abstract: 本发明提供半导体装置,具有:多个隧道二极管,分别具备第一导电型的第一半导体区域和设置在上述第一半导体区域上且具有纳米线的形状的第二导电型的第二半导体区域;绝缘膜,覆盖上述第二半导体区域的侧面;多个第一电极,分别与上述第一半导体区域连接;以及多个第二电极,分别与上述第二半导体区域连接,上述第二电极具有第一面,上述第一面隔着上述绝缘膜与上述第二半导体区域的侧面对置,在上述多个隧道二极管之间,上述第二半导体区域的直径不同。
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公开(公告)号:CN101075470A
公开(公告)日:2007-11-21
申请号:CN200610132219.2
申请日:2006-10-12
Applicant: 富士通株式会社
Inventor: 高桥刚
CPC classification number: G11B5/6005 , G11B5/607
Abstract: 本发明公开了一种读写头悬浮量控制方法和单元、存储装置和计算机可读程序。该读写头悬浮量控制单元通过以下步骤对分别具有加热器的多个读写头中的每一个相对于记录介质的读写头悬浮量进行控制:通过检测热粗糙峰或读取误差来检测各个读写头与相应记录介质之间的接触,并且将在检测到所述接触时加热器的加热量判定为读写头悬浮量为零的状态;以及根据所述加热器的加热量与各个读写头的热膨胀量之间的关系,将各个读写头的读写头悬浮量控制为最优读写头悬浮量。
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公开(公告)号:CN1109345C
公开(公告)日:2003-05-21
申请号:CN98116656.3
申请日:1998-07-29
Applicant: 富士通株式会社
Inventor: 高桥刚
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/10203 , G11B20/18 , G11B20/24
Abstract: 提供了一种纠正由于热糙度造成的错误数据的方法及其设备。还提供了一种装有这样的错误纠正设备的磁盘设备。该纠正设备包括:一个比较器,用来把从磁盘复制的数据信号与一个预定阈值信号相比较;和用来根据从比较器输出的信号和数据信号产生一个错误信号的装置。利用该错误信号,确定包括在数据信号中的错误数据的位置和长度。通过选择地使用动态硬件ECC和软件ECC,可以纠正错误数据,而与其长度无关。
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公开(公告)号:CN1221187A
公开(公告)日:1999-06-30
申请号:CN98116656.3
申请日:1998-07-29
Applicant: 富士通株式会社
Inventor: 高桥刚
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/10203 , G11B20/18 , G11B20/24
Abstract: 提供了一种纠正由于热糙度造成的错误数据的方法及其设备。还提供了一种装有这样的错误纠正设备的磁盘设备。该纠正设备包括:一个比较器,用来把从磁盘复制的数据信号与一个预定阈值信号相比较;和用来根据从比较器输出的信号和数据信号产生一个错误信号的装置。利用该错误信号,确定包括在数据信号中的错误数据的位置和长度。通过选择地使用动态硬件ECC和软件ECC,可以纠正错误数据,而与其长度无关。
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