公开(公告)号：CN1427448A

公开(公告)日：2003-07-02

申请号：CN02131840.9

申请日：2002-09-06

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 黑岩功一 ,  谷口章二 ,  金杉雅已

IPC: H01L21/00

CPC classification number: H04W52/0229 ,  Y02D70/24

Abstract: 一种半导体器件，其中降低了在电源间歇开关的模块中由漏电流引起的功率消耗。在根据本发明的半导体器件中，错误校验必要性判断电路根据从位于不断电模块中的错误校验必要性通知电路来的通知判断是否必须进行错误校验，并且，错误校验执行电路根据错误校验必要性判断电路的判断对在引导时从外部存储器装载的数据进行错误校验。错误校验不能完全省略。因此，为了确保系统的可靠性，在引导执行的次数达到了由错误校验间隔设置电路设定的次数时强制执行一次错误校验。这从间歇工作时间中缩掉了进行错误校验所花费的时间，从而减少了由于无用的漏电流所引起的功率消耗。

公开(公告)号：CN1194379C

公开(公告)日：2005-03-23

申请号：CN02131840.9

申请日：2002-09-06

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 黑岩功一 ,  谷口章二 ,  金杉雅已

IPC: H01L21/00 ,  H04B7/26 ,  H04Q7/00 ,  H04Q7/18

CPC classification number: H04W52/0229 ,  Y02D70/24

Abstract: 一种半导体器件，其中降低了在电源间歇开关的模块中由漏电流引起的功率消耗。在根据本发明的半导体器件中，错误校验必要性判断电路根据从位于不断电模块中的错误校验必要性通知电路来的通知判断是否必须进行错误校验，并且，错误校验执行电路根据错误校验必要性判断电路的判断对在引导时从外部存储器装载的数据进行错误校验。错误校验不能完全省略。因此，为了确保系统的可靠性，在引导执行的次数达到了由错误校验间隔设置电路设定的次数时强制执行一次错误校验。这从间歇工作时间中缩掉了进行错误校验所花费的时间，从而减少了由于无用的漏电流所引起的功率消耗。