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公开(公告)号：CN106796174A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201480081466.7
申请日：2014-08-29
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 本发明的分析方法是将邻苯二甲酸酯从向其照射电磁波而得的光谱进行辨别。该分析方法是准备使不同种类的邻苯二甲酸酯例如(DEHP)和(DINP)分别附着于设置在金属板上的PVC等一对规定基底膜的第1试样和第2试样，使不同种类的邻苯二甲酸酯成为不同状态。向准备的第1试样和第2试样分别照射电磁波，取得金属反射(IR)光谱(P)和金属反射(IR)光谱(Q)。对于不同种类的邻苯二甲酸酯，可得到具有显著差别的光谱，并且使用该光谱能够进行邻苯二甲酸酯类的种类的辨别。
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公开(公告)号：CN106796174B
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201480081466.7
申请日：2014-08-29
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 本发明的分析方法是将邻苯二甲酸酯从向其照射电磁波而得的光谱进行辨别。该分析方法是准备使不同种类的邻苯二甲酸酯例如(DEHP)和(DINP)分别附着于设置在金属板上的PVC等一对规定基底膜的第1试样和第2试样，使不同种类的邻苯二甲酸酯成为不同状态。向准备的第1试样和第2试样分别照射电磁波，取得金属反射(IR)光谱(P)和金属反射(IR)光谱(Q)。对于不同种类的邻苯二甲酸酯，可得到具有显著差别的光谱，并且使用该光谱能够进行邻苯二甲酸酯类的种类的辨别。
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公开(公告)号：CN1837796A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200510089756.9
申请日：2005-08-08
Applicant: 富士通株式会社
Inventor： 臼井康博
IPC: G01N23/223 , G01N23/04
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 本发明提供一种荧光X射线分析仪、荧光X射线分析方法及荧光X射线分析程序，能够低成本地对包括多层形式的材料的样品在该样品的深度方向进行分析，而不需要熟练的技术及过多时间。根据本发明的荧光X射线分析方法，用于在包括以多层形式的不同材料的样品中进行材料分析，通过用X射线照射样品来检测荧光X射线从而分析材料；根据分析结果估算对样品的处理量；然后根据在处理量估算步骤中所估算的处理量来对样品进行处理。
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