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公开(公告)号：CN107615028B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201580079711.5
申请日：2015-05-13
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01K11/32
Abstract: 温度测量装置具有：检测器，其从光入射到光纤的第1端的情况下的后向散射光检测第1斯托克斯成分和第1反斯托克斯成分，从光入射到光纤的第2端的情况下的后向散射光来检测第2斯托克斯成分和第2反斯托克斯成分；校正部，在光纤的包含第1端侧的局部区域的采样点在内的规定区域中，在第1斯托克斯成分及第1反斯托克斯成分与第2反斯托克斯成分之间的相关度中的至少任意一方的大小为阈值以下的情况下，所述校正部将第2反斯托克斯成分置换为与第1斯托克斯成分、第1反斯托克斯成分、第2斯托克斯成分对应的值；以及测量部，其使用第1斯托克斯成分、第1反斯托克斯成分、第2斯托克斯成分和通过校正部被置换后的第2反斯托克斯成分来测量采样点的温度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107532948B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201580079670.X
申请日：2015-05-13
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01K11/32
Abstract: 温度测量装置具有：光源，其将光射入光纤；检测器，其从来自所述光纤的后向散射光中检测斯托克斯成分和反斯托克斯成分；校正部，在包含所述光纤的规定的采样点的规定区域中，所述校正部根据所述斯托克斯成分与所述反斯托克斯成分之间的相关度的大小，计算包含所述采样点的规定范围，在所述规定范围内，对所述斯托克斯成分和所述反斯托克斯成分进行平滑化；以及测量部，其使用平滑化后的所述斯托克斯成分和平滑化后的所述反斯托克斯成分，测量所述采样点的温度。
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公开(公告)号：CN107615028A
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201580079711.5
申请日：2015-05-13
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01K11/32
Abstract: 温度测量装置具有：检测器，其从光入射到光纤的第1端的情况下的后向散射光检测第1斯托克斯成分和第1反斯托克斯成分，从光入射到光纤的第2端的情况下的后向散射光来检测第2斯托克斯成分和第2反斯托克斯成分；校正部，在光纤的包含第1端侧的局部区域的采样点在内的规定区域中，在第1斯托克斯成分及第1反斯托克斯成分与第2反斯托克斯成分之间的相关度中的至少任意一方的大小为阈值以下的情况下，所述校正部将第2反斯托克斯成分置换为与第1斯托克斯成分、第1反斯托克斯成分、第2斯托克斯成分对应的值；以及测量部，其使用第1斯托克斯成分、第1反斯托克斯成分、第2斯托克斯成分和通过校正部被置换后的第2反斯托克斯成分来测量采样点的温度。
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公开(公告)号：CN107532948A
公开(公告)日：2018-01-02
申请号：CN201580079670.X
申请日：2015-05-13
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01K11/32
Abstract: 温度测量装置具有：光源，其将光射入光纤；检测器，其从来自所述光纤的后向散射光中检测斯托克斯成分和反斯托克斯成分；校正部，在包含所述光纤的规定的采样点的规定区域中，所述校正部根据所述斯托克斯成分与所述反斯托克斯成分之间的相关度的大小，计算包含所述采样点的规定范围，在所述规定范围内，对所述斯托克斯成分和所述反斯托克斯成分进行平滑化；以及测量部，其使用平滑化后的所述斯托克斯成分和平滑化后的所述反斯托克斯成分，测量所述采样点的温度。
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公开(公告)号：CN102414946B
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN200980158675.6
申请日：2009-12-22
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 提供自动地解析光纤等线材的敷设状态的线材的敷设状态解析方法以及敷设状态解析装置。通过相机(51)拍摄光纤(20)的敷设状态。在光纤(20)上以一定间隔赋予位置标志(23)，该位置标志表示距预定位置的距离和光纤(20)的朝向。拍摄的图像在敷设状态解析装置(52)中进行图像处理，使用光纤敷设工具(40)以及位置标志(23)来解析光纤(20)的敷设状态。并且，将光纤(20)的敷设状态与直角坐标关联，例如能够根据距盒(10)的入口部的距离计算光纤(20)的任意的位置的坐标。
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公开(公告)号：CN102414946A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN200980158675.6
申请日：2009-12-22
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 提供自动地解析光纤等线材的敷设状态的线材的敷设状态解析方法以及敷设状态解析装置。通过相机(51)拍摄光纤(20)的敷设状态。在光纤(20)上以一定间隔赋予位置标志(23)，该位置标志表示距预定位置的距离和光纤(20)的朝向。拍摄的图像在敷设状态解析装置(52)中进行图像处理，使用光纤敷设工具(40)以及位置标志(23)来解析光纤(20)的敷设状态。并且，将光纤(20)的敷设状态与直角坐标关联，例如能够根据距盒(10)的入口部的距离计算光纤(20)的任意的位置的坐标。
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