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公开(公告)号:CN102365536B
公开(公告)日:2014-06-11
申请号:CN200980158413.X
申请日:2009-12-22
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01K11/12
CPC classification number: G01K11/32 , G01K15/00 , G01K2011/324
Abstract: 在温度测定系统和温度测定方法中,高精度地测定温度。包括:输出激光的激光光源(21);铺设于温度测定区域的光纤(24)以及检测入射到光纤(24)内的激光的后方散射光,取得沿光纤(24)的铺设路径的温度测定区域的温度的测定温度分布,并且修正该测定温度分布,计算修正温度分布的温度测定部(27);其中,温度测定部(27)为使沿铺设路径的光纤(24)的传递函数与修正温度分布的卷积与测定温度分布之间的平方误差在每次修正时变小,而对该测定温度分布逐次地进行多次修正,并且每当进行各次的修正时将铺设路径的特定点的修正后的温度替换成该特定点的推断温度。
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公开(公告)号:CN102365536A
公开(公告)日:2012-02-29
申请号:CN200980158413.X
申请日:2009-12-22
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G01K11/12
CPC classification number: G01K11/32 , G01K15/00 , G01K2011/324
Abstract: 在温度测定系统和温度测定方法中,高精度地测定温度。包括:输出激光的激光光源(21);铺设于温度测定区域的光纤(24)以及检测入射到光纤(24)内的激光的后方散射光,取得沿光纤(24)的铺设路径的温度测定区域的温度的测定温度分布,并且修正该测定温度分布,计算修正温度分布的温度测定部(27);其中,温度测定部(27)为使沿铺设路径的光纤(24)的传递函数与修正温度分布的卷积与测定温度分布之间的平方误差在每次修正时变小,而对该测定温度分布逐次地进行多次修正,并且每当进行各次的修正时将铺设路径的特定点的修正后的温度替换成该特定点的推断温度。
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