公开(公告)号：CN101046974A

公开(公告)日：2007-10-03

申请号：CN200610099340.X

申请日：2006-07-17

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 今村孝浩 ,  窪寺裕之 ,  横畑徹

IPC: G11B5/455 ,  G11B5/60 ,  G11B21/21

CPC classification number: G11B5/455 ,  G11B5/6005 ,  G11B5/6064 ,  G11B2220/2512 ,  G11B2220/2516

Abstract: 本发明公开了一种头部检查装置和其方法。在用于判断用在记录和再现设备中的记录和再现头部的可接受性的检查中，获取指示头部单元的数据信号的质量的质量信息和指示头部单元的飞行高度的飞行高度信息，并通过质量和飞行高度的组合判断头部单元的可接受性。

公开(公告)号：CN101211573A

公开(公告)日：2008-07-02

申请号：CN200710301611.X

申请日：2007-12-20

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 窪寺裕之 ,  今村孝浩 ,  渡边徹 ,  千叶洋

IPC: G11B5/60 ,  G11B21/21

Abstract: 本发明公开了一种通过空气流而使磁头在记录介质上方飞行的磁头滑块。这种磁头滑块在面向记录介质的表面中包括凹陷部分。该凹陷部分被形成为这样的形状：所述形状使得不会形成由空气流造成的剪应力集中的区域。