公开(公告)号：CN104182562B

公开(公告)日：2017-07-14

申请号：CN201410181044.9

申请日：2014-04-30

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 长冈秀明 ,  福盛大雅 ,  水谷大辅

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5068 ,  H05K1/0245 ,  H05K1/0248 ,  H05K1/0366 ,  H05K3/0005 ,  H05K2201/029

Abstract: 本发明涉及模拟方法和模拟设备。对第一布线板内部结构模型的多个位置模式和第二布线板内部结构模型的多个位置模式进行三维电磁场分析来计算偏斜(步骤S20)，第一布线板内部结构模型包括差动线上侧的一个玻璃布，第二布线板内部结构模型包括差动线下侧的一个玻璃布，并且关于多个布线板模式对计算出的偏斜求和，来计算总偏斜，其中多个布线板模式是通过对由组合第一模型的多个位置模式获得的多个组合模式和由组合第二模型的多个位置模式获得的多个组合模式进行组合而构成的，然后基于总偏斜来获取具有特定线长度的布线板中的偏斜分布(步骤S30)。

公开(公告)号：CN104182562A

公开(公告)日：2014-12-03

申请号：CN201410181044.9

申请日：2014-04-30

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 长冈秀明 ,  福盛大雅 ,  水谷大辅

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5068 ,  H05K1/0245 ,  H05K1/0248 ,  H05K1/0366 ,  H05K3/0005 ,  H05K2201/029

Abstract: 本发明涉及模拟方法和模拟设备。对第一布线板内部结构模型的多个位置模式和第二布线板内部结构模型的多个位置模式进行三维电磁场分析来计算偏斜(步骤S20)，第一布线板内部结构模型包括差动线上侧的一个玻璃布，第二布线板内部结构模型包括差动线下侧的一个玻璃布，并且关于多个布线板模式对计算出的偏斜求和，来计算总偏斜，其中多个布线板模式是通过对由组合第一模型的多个位置模式获得的多个组合模式和由组合第二模型的多个位置模式获得的多个组合模式进行组合而构成的，然后基于总偏斜来获取具有特定线长度的布线板中的偏斜分布(步骤S30)。