晶体分析方法、晶体分析装置和晶体分析程序

    公开(公告)号:CN114743611B

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202111292863.7

    申请日:2021-11-03

    Inventor: 栗田知周

    Abstract: 本发明涉及晶体分析方法、晶体分析装置和晶体分析程序。公开了一种用于计算机执行下述过程的晶体分析方法,其包括:创建指示离子晶体中的重复晶胞的数据和与所述重复晶胞相邻的相邻重复晶胞的数据的图表;根据所述图表分析离子晶体;当指示重复晶胞中与阳离子原子键合的阴离子原子的数据的第一晶胞内节点的数目为n时,将指示重复晶胞中的阴离子原子的数据的第二晶胞内节点的数目设为n‑1以下,其中重复晶胞的数据包括指示重复晶胞中的原子的数据的多个晶胞内节点,并且所述多个晶胞内节点包括第一晶胞内节点和第二晶胞内节点。

    晶体材料分析装置和方法及计算机可读记录介质

    公开(公告)号:CN113223636B

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202110136866.5

    申请日:2021-02-01

    Abstract: 公开了晶体材料分析装置和方法及计算机可读记录介质。晶体材料分析装置包括:图创建单元,用于创建环路图,该环路图具有:晶胞内节点,其指示晶体材料的一个晶胞中的原子;晶胞内边,其指示晶胞中的原子之间的化学键;以及环路边,指示晶胞中的原子X与晶胞中的下述原子Y之间的虚拟的化学键:该晶胞中的原子Y对应于与该晶胞相邻的相邻晶胞中的原子Y',其中,原子Y'与原子X具有化学键;以及分析单元,通过使用图来分析晶体材料。

    晶体分析方法、晶体分析装置和晶体分析程序

    公开(公告)号:CN114743611A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202111292863.7

    申请日:2021-11-03

    Inventor: 栗田知周

    Abstract: 本发明涉及晶体分析方法、晶体分析装置和晶体分析程序。公开了一种用于计算机执行下述过程的晶体分析方法,其包括:创建指示离子晶体中的重复晶胞的数据和与所述重复晶胞相邻的相邻重复晶胞的数据的图表;根据所述图表分析离子晶体;当指示重复晶胞中与阳离子原子键合的阴离子原子的数据的第一晶胞内节点的数目为n时,将指示重复晶胞中的阴离子原子的数据的第二晶胞内节点的数目设为n‑1以下,其中重复晶胞的数据包括指示重复晶胞中的原子的数据的多个晶胞内节点,并且所述多个晶胞内节点包括第一晶胞内节点和第二晶胞内节点。

Patent Agency Ranking