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公开(公告)号：CN108170895B
公开(公告)日：2021-12-14
申请号：CN201711261432.8
申请日：2017-12-04
Applicant: 富士通株式会社 , 国立大学法人东京大学
IPC: G06F30/28 , G06T7/00 , G06F113/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种纹线可视化设备和方法。在纹线可视化设备中，处理单元通过使用表达式来计算多个网格点上的流体在多个第一时间点中的每一个处的速度的时间微分值，所述表达式包括用于校正由位置信息表示的多个网格点的加速运动引起的误差的校正值。处理单元基于多个网格点上的流体在多个第一时间点中的每一个处的速度的时间微分值和速度，计算随着分析时间的进行从粒子生成源依序输出的一系列多个粒子在多个第二时间点中的每一个处的位置，所述多个第二时间点具有短于第一时间间隔的第二时间间隔。处理单元生成关于指示一系列多个粒子的纹线的显示信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108153934B
公开(公告)日：2021-08-27
申请号：CN201711238378.5
申请日：2017-11-30
Applicant: 富士通株式会社 , 国立大学法人东京大学
IPC: G06F30/20 , G06F111/10
Abstract: 本发明涉及纹线可视化设备和方法。一种纹线可视化设备，其将包括分析空间中的第一纹线上的第一位置处的离散点的部分区域设置为离散点的分析目标区域。基于由流体信息指示的分析目标区域中的流体的速度，所述设备计算指示离散点上的粒子在第二分析时间点处的目的地的第二位置。接下来，基于由结构信息指示的关于分析目标区域中的结构的信息，所述设备确定由所述分析目标区域中的结构在第二分析时间点处占据的区域。接下来，基于第一位置和第二位置，所述设备确定第二纹线是否已经进入占据区域。如果第二纹线未进入占据区域，则所述设备显示通过第二位置的第二纹线。
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公开(公告)号：CN116992971A
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202310203092.2
申请日：2023-03-06
Applicant: 富士通株式会社
Inventor： 栉部大介
IPC: G06N10/60
Abstract: 本申请公开了存储介质、解搜索方法和信息处理装置。一种存储使至少一个计算机执行处理的解搜索程序的非暂态计算机可读存储介质，所述处理包括：当通过获得表示问题的伊辛模型的状态变化来搜索伊辛模型的基态时，根据第一退火时间表从伊辛模型的初始状态减小施加至伊辛模型的磁场强度；以及在伊辛模型中发生量子相变之后，根据第二退火时间表减小磁场强度。
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公开(公告)号：CN113392496A
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202110148260.3
申请日：2021-02-03
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G06F30/20 , G06F111/08
Abstract: 本发明涉及优化设备、优化方法和用于存储优化程序的存储介质。由计算机在通过模拟施加至伊辛模型的磁场减小时该伊辛模型的状态变化来尝试求解该伊辛模型的基态时执行的优化方法，该伊辛模型表示要求解的问题，该方法包括：执行第一处理，所述第一处理为实时传播，在实时传播中，磁场的强度在模拟中随着时间的进行而减小；以及响应于第一处理的实时传播的时间的进行，执行第二处理，所述第二处理包括基于虚时传播方法减小伊辛模型的能量。
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公开(公告)号：CN108170895A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711261432.8
申请日：2017-12-04
Applicant: 富士通株式会社 , 国立大学法人东京大学
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/504 , A61B6/507 , A61B6/5217 , G06F17/5009 , G06F17/5095 , G06F2217/16 , G06F2217/46 , G06T7/0016 , G06T2207/30104
Abstract: 本发明公开了一种纹线可视化设备和方法。在纹线可视化设备中，处理单元通过使用表达式来计算多个网格点上的流体在多个第一时间点中的每一个处的速度的时间微分值，所述表达式包括用于校正由位置信息表示的多个网格点的加速运动引起的误差的校正值。处理单元基于多个网格点上的流体在多个第一时间点中的每一个处的速度的时间微分值和速度，计算随着分析时间的进行从粒子生成源依序输出的一系列多个粒子在多个第二时间点中的每一个处的位置，所述多个第二时间点具有短于第一时间间隔的第二时间间隔。处理单元生成关于指示一系列多个粒子的纹线的显示信息。
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公开(公告)号：CN108153934A
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201711238378.5
申请日：2017-11-30
Applicant: 富士通株式会社 , 国立大学法人东京大学
CPC classification number: G06F17/5009 , G06F17/13 , G06F17/16 , G06F2217/16
Abstract: 本发明涉及纹线可视化设备和方法。一种纹线可视化设备，其将包括分析空间中的第一纹线上的第一位置处的离散点的部分区域设置为离散点的分析目标区域。基于由流体信息指示的分析目标区域中的流体的速度，所述设备计算指示离散点上的粒子在第二分析时间点处的目的地的第二位置。接下来，基于由结构信息指示的关于分析目标区域中的结构的信息，所述设备确定由所述分析目标区域中的结构在第二分析时间点处占据的区域。接下来，基于第一位置和第二位置，所述设备确定第二纹线是否已经进入占据区域。如果第二纹线未进入占据区域，则所述设备显示通过第二位置的第二纹线。
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